Интерферометрия
Cтраница 1
 |
Принципиальная схема интерферометра. [1] |
Интерферометрия, как физический метод анализа, является видоизменением рефрактометрии, где показатель преломления измеряется не по углу полного отражения, а по сдвигу интерференционного спектра. Это повышает чувствительность интерферометра к изменению состава. [2]
Интерферометрия используется для определении электронной плотности плазмы. Обычно используются различные модификации интерферометра Маха - Цендера, приспособленные для скоростного покадрового фотографирования интерферограмм. [3]
 |
Принципиальная схема интерферометра. [4] |
Интерферометрия, как физический метод анализа, является видоизменением рефрактометрии, где показатель преломления измеряется не по углу полного отражения, а по сдвигу интерференционного спектра. Это повышает чувствительность интерферометра к изменению состава. [5]
Интерферометрия основана на явлении интерференции двух волн. [6]
 |
Схема интерферометра Фпзо ( для наглядности угол а и размеры дефектов увеличены. [7] |
Голо графическая интерферометрия), позволяющие регистрировать небольшие изменения в форме поверхности или предмета, возникающие в результате тех или иных деформаций. [8]
Когда интерферометрия используется для изучения объекта в его рабочих условиях, то особой проблемы возбуждения не возникает. [9]
В интерферометрии сравниваемые волны формируются одновременно, но распространяются по разным путям. Временная задержка между этими волнами, обусловленная различием их оптич. [10]
В интерферометрии вводятся также понятия о соответственных лучах и соответственных точках. Лучи, возникающие из одного первичного луча, идущего отданной точки источника, и появляющиеся путем деления пучка, падающего на интерферометр, называются соответственными лучами. [11]
В интерферометрии с большими базами использование интерферометра интенсивностей приводит к некоторым техническим упрощениям, которые в основном имели значение на ранней стадии развития радиоастрономии. [13]
В интерферометрии пластиной обычно называют слой прозрачного вещества, ограниченный оптическими поверхностями. [14]
 |
Корреляционная функция интенсивности когерентного излучения, рассеянного в четы-реххлористом углероде. [15] |
Страницы: 1 2 3 4 5