Дифрактометрия

Cтраница 1

Дифрактометрия основана на получении дифракционной картины кристаллов, по которой определяют качественные и количественные структурные параметры. [1]

Дифрактометрия с искаженным пучком применима также для изучения ограниченной диффузии. [2]

Схемы съемки в фокусирующей камере с применением монохроматора ( а - на отражение, б - на просвет. Ф - фокус рентгеновской трубки. М - кристалл-монохроматор. О - образец. Я - пленка. [3]

Дифрактометрию целесообразно применять тогда, когда необходимы точные количественные измерения интегральной интенсивности или распределения интенсивности в зависимости от угла дифракции1, а также анализ интенсивности диффузного фона. Наиболее часто дифрактометрия используется при количественном фазовом анализе, прецизионном измерении периодов решетки и определении величины напряжений, при анализе формы и ширины интерференционного максимума, анализе текстур. [4]

В области дифрактометрии ( см. Рентгеновский дифрактометр) Р.г. обеспечивает перемещение образца и счетчика относительно первичного пучка так, чтобы выполнялось условие фокусировки ( рис. 4; см. также рис. 2 в ст. Рентгеновский дифрактометр) в методах исследования поликристаллов. [5]

Основной недостаток монокристальной энергодисперсионной дифрактометрии тот же, что и у порошковой и у метода Лауэ - зависимость интенсивности дифракционных лучей от распределения интенсивности по длинам волн в белом спектре первичного пучка. [6]

В данной работе методом рентгеновской порошковой дифрактометрии исследовалось влияние интеркалирования водородом при обычных температуре и давлении на структуру, фазовые переходы, параметры и объем решетки фуллерита Си - Имея малые размеры молекулы Fb легко проникают в пустоты кристаллической решетки, в то же время наличае у ортомолекул квадрупольного момента, в отличав от атомов благородных газов, позволяет надеяться на возникновение новых эффектов. [7]

Номограммы могут использоваться не только при фоторегистрации и дифрактометрии, но и для расчета погрешностей в случае электро-но ] рамм. [8]

Изложены результаты исследований фазовых превращений при нагревании электродиализованной безкатионной формы вермикулита методом дифрактометрии. [9]

Понятно, что наибольший выигрыш синхротронное излучение дает при работе по методу энергодисперсионной дифрактометрии, где используется непосредственно весь спектр - у-излучения синхротрона. Именно для использования этого источника лучей и разрабатываются главным образом энергодисперсионные дифракто-метры. [10]

Понятно, что наибольший выигрыш синхротронное излучение дает при работе по методу энергодисперсионной дифрактометрии, где используется непосредственно весь спектр у-излучения синхротрона. Именно для использования этого источника лучей и разрабатываются главным образом энергодисперсионные дифракто-метры. [11]

Создание более совершенных фокусирующих камер-монохроматоров типа камеры Гинье и ее разновидностей, включая высокотемпературные камеры, например Гинье-Ленна, позволило улучшить аппаратуру с фотографической регистрацией рентгеновского излучения. В рентгеновской порошковой дифрактометрии произошла постепенная замена счетчиков Гейгера пропорциональными и сцинтиляционны-ми счетчиками, а это позволило использовать амплитудные анализаторы и резко снизить уровень фона. Порошковые диф-рактометры последних выпусков обычно снабжены управляющими ЭВМ, на которых возможна и обработка результатов. Результатом прогресса в рентгеновской аппаратуре явилось повышение точности определения межплоскостных расстояний в области малых дифракционных углов примерно на порядок, что увеличил о в свою очередь надежность интерпретации данных, в частности надежность индицирования. [12]

Приведены новейшие данные по оптической, световой, электронной, просвечивающей, растровой, дифракционной, фотоэмиссионной и автоионной микроскопии. Описан метод дифрактометрии в медленных электронах и при использовании электронов с высокими энергиями. Рассмотрен микроанализ с помощью электронного зонда, Оже-спектроскопии и др. Изложены сведения о сварных соединениях. [15]

Страницы: 1 2