Дифракция

Cтраница 3

Дифракция ( обычно рентгеновских лучей, но также электронов и нейтронов) позволяет непосредственно установить размеры элементарной ячейки, межплоскостные расстояния и некоторые элементы внутренней симметрии кристалла. Подробный анализ интенсивностей дифракционной картины дает дополнительные данные о симметрии и, если удается решить фазовую проблему, о межатомных расстояниях. [31]

Распределение интенсивности при дифракции на двух параллельных щелях шириной Ь, расположенных на расстоянии d. [32]

Дифракция от двух щелей, облегчающая переход к рассмотрению дифракционной решетки, имеет и непосредственный интерес по тем применениям, которые она получила в разных физических измерениях. [33]

Дифракция, возникающая вследствие ограничения пучка лучей, имеет место и в микроскопе и также приводит к ограничению его разрешающей силы. Для микроскопа обычно выражают его способность к разрешению деталей не величиной угла, а линейными размерами мельчайшей разрешимой детали или минимальным расстоянием между двумя точками, различимыми с помощью микроскопа. В том случае, когда две такие точки испускают некогерентные волны ( самосветящиеся точки), задача вполне аналогична рассмотренной в предыдущем параграфе. [34]

Дифракция наблюдается при взаимодействии излучения и облучаемого объекта при условии, что длина волны излучения меньше, чем межатомные расстояния кристаллической решетки объекта. В обычных электронных микроскопах с ускоряющим напряжением более 40 кВ возникающее излучение удовлетворяет этим требованиям. Разумеется, просвечиваемая толщина объектов в основном зависит от величины ускоряющего напряжения. [35]

Дифракция объясняется на основе волновой теории света. [36]

Дифракция на круглом отверстии при открытом нечетном ( а) и четном ( б) числе ион. [37]

Схема атомного спектра и т. д. Такие спектры называются водорода в видимой области, линейчатыми. На 3 при. [38]

Дифракция присуща всякому волновому движению и служит одним из основных доказательств волновой природы света. [39]

Схема наблюдения дифракции спета на ультразвуке. I - ану-стоонтичеккая, II - регистрирующая системы.| Схема дифракции света на ультразвуке. [40]

Дифракция имеет место при любом угле падения света на акустич. В общем случае интенсивность дифрагированного света / мала по сравнению с интенсивностью падающего / 00, поскольку эл. [41]

Дифракция за счет эффектов рассеяния и поглощения света в самой фотопластинке дополнительно искажает изображение линий. Рассеяние света в эмульсионном слое расширяет контур площади, на которую падает свет, а многократное отражение внутри пластинки приводит к появлению ореолов вокруг интенсивных линий, длины волн которых мало поглощаются материалом фотопластинки. Иногда приходится - использовать даже различные способы борьбы с этими ореолами. [42]

Дифракция вносит и другие поправки в геометр септическую картину. На границе между светом и тенью возникают зоны сильного градиента амплитуды, полутеневые переходные зоны. Эти зоны на рис. 22.1 выделены редкой штриховкой; они расширяются по мере того, как точка наблюдения удаляется от вершины А или точки касания В гладкого выпуклого участка. В этих зонах происходит поперечная диффузия света из области света в область тени; поля полутеневых зон описываются интегралом Френеля. [43]

Дифракция на большом отверстии в экране, эффекты в прямом. [44]

Дифракция возмущает эту геометро-оптическую картину. На границе между освещенной областью справа от экрана и тенью появляются зоны полутени, заштрихованные на рис. 23.1, а. Такие же зоны возникают и в отраженном поле. В областях вне полутеневых переходных зон имеют место дифракционные лучи, как бы излученные краем экрана. Краевые лучи интерферируют с падающими и отраженными лучами; те и другие вместе составляют лучевую структуру поля. В областях А - лучи падающие, отраженные и лучи от краев, нижнего и верхнего; в областях В, С - лучи падающие и краевые; в D - только краевые дифракционные лучи. [45]

Страницы: 1 2 3 4