Cтраница 3
Магниточувствительный узел интроскопа подключен к выходу блока развертки и к входу амплитудного селектора. Амплитудный селектор, в свою очередь, через блок смешивания с синхронизирующими импульсами, подключен к блоку памяти. При проведении контроля осуществляется электронно-механическое сканирование внутренней поверхности трубопровода. После завершения сканирования на экране блока визуализации воспроизводится содержимое блока памяти, параллельно записанное изображение магнитного рельефа анализируется автоматической телевизионной системой. [31]
Техническая реализация лазерных интроскопов, основанных на измерении оптического поглощения материалов при пропускании через них света состоит в том, что исследуемый образец можно просвечивать либо узким, либо широким лазерным лучом. В первом случае лазерный луч с помощью оптической системы формируется в пятно малого диаметра, которое построчно перемещается относительно образца, или образец перемещается относительно луча лазера. Во втором случае оптическая система формирует широкий луч, который просвечивает весь исследуемый образец. [32]
![]() |
Схема сканирующего устройства с механическим приводом. [33] |
К достоинствам интроскопов данного типа следует отнести возможность использования преобразователей эхо-дефектоскопов, произвольный способ сканирования, возможность получения большой зоны обзора даже на объектах относительно сложной формы. [34]
![]() |
Структурная схема интроскопа с электронным линейным сканированием. [35] |
Блок управления интроскопом позволяет изменять положение зон фокусировки при излучении и приеме, величину коэффициента усиления и его зависимость от величины сигнала ( вплоть до нормального логарифмирования) общего усилителя. Через блок управления ОЗУ обеспечивает режим стоп-кадра, вывод бистабиль-ного или полутонового изображения, выполнение отсечки сигналов изображения. [36]
По типам сканирования интроскопы делятся на пять групп, каждая из которых в общем случае может делиться еще на несколько групп. Например, электронное одномерное сканирование может осуществляться переключением групп элементов одномерной решетки и фазированием группы элементов. Первое обеспечивает линейное сканирование, второе - секторное. Объединение этих двух способов позволяет осуществлять сложное сканирование. [37]
Отличительной особенностью таких интроскопов является то, что одновременно зондируется небольшой по площади элемент объекта, а многоэлементный отбор информации достигается за счет механического сканирования объекта или антенн. Датчик / 5 обеспечивает сканирование лампочки или электронного пучка синхронно с антеннами. [38]
Отличительной особенностью таких интроскопов является то, что одновременно зондируется небольшой по площади элемент объекта, а многоэлементный отбор информации достигается за счет механического сканирования объекта или антенн. Датчик 15 обеспечивает сканирование лампочки или электронного пучка синхронно с антеннами. [39]
Однако покупка таких внутритрубных интроскопов за рубежом и обучение персонала связаны с огромными валютными затратами, исчисляемыми десятками миллионов долларов. Приглашение же зарубежных специалистов для инспекции отдельных участков подземных трубопроводов также не может решить проблему в целом из-за высокой цены работы, в 7 - 8 раз превышающей отечественные расценки. [40]
Итак, принципиальная схема интроскопа включает источник инфракрасного излучения, светофильтр для отделения инфракрасных лучей от видимого света, объектив, формирующий изображение, электронно-оптический преобразователь, систему наблюдения изображения на экране. [41]
Значительного улучшения характеристик ИК интроскопов удалось добиться, используя в качестве зондирующего излучения лазерный луч ИК диапазона, а в качестве приемника - ИК ви-дикон. Лазерный луч, расширенный с помощью оптической системы, проходит через исследуемый образец и создает на мишени И К видикона изображение неоднородностей исследуемого объекта. При этом возможно получение как качественной информации о распределении неоднородностей в исследуемом материале благодаря визуализации прошедшего потока, так и количественной информации, которую можно получить, анализируя видеосигналы, поступающие с видикона, с помощью соответствующих электронных схем. [42]
Визуализация полей дефектов в интроскопах с многоэлементными преобразователями позволяет получать количественную оценку параметров обнаруженных дефектов. Применение компьютерной техники и конструктивные особенности матричных преобразователей позволяет значительно упростить схемы селекции части растра, формирования ограничивающей рамки, измерения площади, протяженности, ширины и глубины дефекта. [43]
Память и АЦП в интроскопах требуются скоростные. Объясняется это темпом поступления информации, который определяется скоростью распространения ультразвуковых колебаний в контролируемом изделии и требуемым осевым разрешением. [44]
Визуализация полей дефектов в интроскопах с многоэлементными преобразователями позволяет получать количественную оценку параметров обнаруженных дефектов. Применение компьютерной техники и конструктивные особенности матричных преобразователей позволяют значительно упростить схемы селекции части растра, формирования ограничивающей рамки, измерения площади, протяженности, ширины и глубины дефекта. [45]