Дифракция - световая волна
Cтраница 3
Выясним прежде всего, какой минимальный угловой размер объекта может быть разрешен с помощью телескопа. Предел разрешения определяется дифракцией световых волн. [31]
Технология накладывает свои ограничения, обусловленные размещающей способностью фотолитографии. Разрешающая способность определяется дифракцией световых волн и составляет 0 5 - 1 мкм. Переход к электронно-лучевой литографии позволяет повысить разрешающую способность в 5 - 10 раз, а следовательно, перейти к изготовлению структур с минимальными размерами элементов 100 - 200 нм. Возможности микроминиатюризации определяются минимальным числом атомов, необходимых для реализации того или иного процесса. [32]
Для выяснения этой проблемы сравним дифракцию световых волн и микрочастиц. Дифракционная картина, наблюдаемая для световых волн, характеризуется тем, что в результате наложения дифрагирующих волн друг на друга в различных точках пространства происходит усиление или ослабление амплитуды колебаний. Согласно волновым представлениям о природе света, интенсивность дифракционной картины пропорциональна квадрату амплитуды световой волны. [33]
Для выяснения этой проблемы сравним дифракцию световых волн и микрочастиц. Дифракционная картина, наблюдаемая для световых волн, характеризуется тем, что в результате наложения дифрагирующих волн друг на друга в различных точках пространства происходит усиление или ослабление амплитуды колебаний. Согласно волновым представлениям о природе света, интенсивность дифракционной картины пропорциональна квадрату амплитуды световой волны. По представлениям фотонной теории, интенсивность определяется числом фотонов, попадающих в данную точку дифракционной картины. Следовательно, число фотонов в данной точке дифракционной картины задается квадратом амплитуды световой волны, в то время как для одного фотона квадрат амплитуды определяет вероятность попадания фотона в ту или иную точку. [34]
Для выяснения этой проблемы сравним дифракцию световых волн и микрочастиц. Дифракционная картина, наблюдаемая для световых волн, характеризуется тем, что в результате наложения дифрагирующих волн друг на друга в различных точках пространства происходит усиление или ослабление амплитуды колебаний. Согласно волновым представлениям о природе света, интенсивность дифракционной картины пропорциональна квадрату амплитуды световой волны. [35]
Мы видели, что решетка из проволок, стоящая на пути распространения ультразвуковых волн, приводит к появлению дифракции; дифракционная картина за решеткой ( рис. 184) меняется в зависимости от того, в каком отношении находятся длина ультразвуковой волны и расстояние между проволоками. Подобно этому оптическая штриховая решетка приводит к дифракции световых волн; получающаяся за решеткой дифракционная картина различна для световых волн разной длины волны. [36]
Мы видели, что решетка из проволок, стоящая на пути распространения ультразвуковых волн, приводит к появлению дифракции; дифракционная картина за решеткой ( рис. 175) меняется в зависимости от того, в каком отношении находятся длина ультразвуковой волны и расстояние между проволоками. Подобно этому оптическая штриховая решетка приводит к дифракции световых волн; получающаяся за решеткой дифракционная картина различна для световых волн разной длины волны. Для белого света получается совокупность дифракционных картин каждой из световых волн, присутствующих в нем; за решеткой образуется результирующая дифракционная картина в виде ряда окрашенных спектров. [37]
Если длина волны меньше линейных размеров частиц, то рассеяние обусловлено преломлением на границе раздела частица - растворитель отражением его частицами. Если длина волны больше линейных размеров частиц, то происходит дифракция световой волны, возникает эффект Тиндаля. Интенсивность рассеяния возрастает с увеличением числа рассеивающих частиц. На этом основаны, два родственных аналитических метода определения концентрации вещества: нефелометрия и турбидиметрия. При турбидиметрических определениях измеряют мощность света W, выходящего из кюветы а направлении падающего светового пучка. [38]
Фактически мы вернемся к интерферометру Юнга ( рис. 4.1), при рассмотрении которого в § 2 было введено понятие пространственной когерентности и обоснован метод измерения поперечной корреляционной функции поля. Теперь мы располагаем теоретическими основами для более строгого расчета интерференционной картины при дифракции световой волны на двух отверстиях. [39]
Ему удалось также показать, что закон прямолинейного распространения света является приближенным решением общей задачи о дифракции световых волн, более или менее точно описывающим результат дифракции только при некоторых условиях. [40]
 |
Схема наблюдения дифракции на ультраакустических волнах. [41] |
Мы получаем, следовательно, фазовую решетку с периодом 10 мкм, вполне удобную для наблюдения дифракции световых волн. [42]
При выполнении этого условия каждый луч падающего пучка света отражается так, что угол падения, образуемый лучом с нормалью к поверхности, равен углу отражения, причем оба луча, падающий и отраженный, лежат в одной плоскости с нормалью ( закон О. Если же беспорядочные неровности поверхности немного превышают по размерам длину световой волны, то рассеяние света может быть интерпретировано, как дифракция световых волн. В случае крупных неровностей рассеяние объясняется, как О. Дальнейшее изложение относится к правильному отражению от гладких поверхностей на границе изотропных тел. Основным свойством правильно отраженной волны является ее когерентность с волною падающей и преломленной; при встрече падающей и отраженной волны ( фиг. [43]
Дифракция на трехмерной решетке представляет собой довольно сложный процесс. Решение задачи дифракции может быть получено аналогично тому, как это делается при изучении дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке или дифракции световых волн на стоячей ультразвуковой волне. Мы рассмотрим только случай дифракции Фраунгофера плоской волны на объемной решетке, представляющей собой совокупность равноудаленных изофазных плоскостей. [44]
 |
Пояснение к расчету амплитуды результирующего колебания при дифракции на N щелях. [45] |
Страницы: 1 2 3 4