Дифракция - медленный электрон
Cтраница 2
 |
Спектры термодесорбции этилена, адсорбированного на A1203 ( Атепотуа Y., Cve-tanovic К. J., J. РЬуь. Cheni., 67, 114 ( 1963. [16] |
В настоящее время метод дифракции медленных электронов ( ДМЭ) относится к наиболее широко применяемым методам исследования физики поверхности. Этот метод аналогичен дифракции рентгеновских лучей, но глубина проникновения медленных электронов в изучаемое твердое тело гораздо меньше, чем рентгеновских лучей. При энергии электронов от 250 до 300 эВ ( 1 эВ - 1 602 - 10 - 19 Дж) основной вклад в формирование дифракционной картины вносят только первые 2 - 3 слоя атомов твердого тела. Поэтому данный метод особенно пригоден для изучения чистых поверхностей и адсорбционных систем. [17]
Исследование поверхности слоев методом дифракции медленных электронов. Как известно, из-за низкой энергии медленных электронов и их сильного рассеивания опыты по дифракции необходимо проводить в вакууме 10 - 9 - 10 - 10 мм рт. ст.; по той же причине прямая фотографическая регистрация продифрагировавшего пучка сопряжена с трудностями. К сожалению, из-за малой точности определения периодов решетки с помощью дифракции медленных электронов нельзя прямо проверить характер соответствия кристаллических решеток. С этой целью обычно прибегают к косвенному анализу электронограмм с реконструкцией на основе таких данных структуры слоев, образующихся на кристаллической поверхности. Так были изучены также структура чистых поверхностей и различные поверхностные реакции. Наиболее полные сведения дало изучение структур адсорбированных слоев различных газов на поверхностях монокристаллов. [18]
Данные по исследованию ИК-спектров, дифракции медленных электронов и другие методы позволяют считать, что на поверхности серебра также имеется двухатомная форма кислорода Ог, которая, возможно, активна в реакции окисления этилена в оксид. [19]
 |
Идеальная структура поверхностей гранецентрированных кристаллических решеток ( Ni, Pd, Pt и T. n. i. [20] |
Эффективным методом исследования поверхности является дифракция медленных электронов, которые интенсивно рассеиваются на поверхностных атомах и не проникают в объем кристалла. Имеется много данных, полученных методом, основанным на облучении кристалла вакуумным УФ - и мягким рентгеновским излучением. Такое облучение возбуждает атомы поверхности, и спектр электронов, испускаемых при релаксационных процессах, позволяет получить информацию о структуре поверхностного слоя. Благодаря этим и аналогичным методам в последние годы достигнут существенный прогресс в изучении химических процессов, протекающих на поверхности. [21]
Алдаг и Стерн [397] исследовали дифракцию медленных электронов от плоскости ( НО) монокристалла вольфрама. [23]
Поэтому результаты, полученные с помощью дифракции медленных электронов, значительно более полезны при исследовании адсорбции и катализа и этот метод более перспективен. [24]
 |
Схема опыта по дифракции электронов ( Дэвиссон и Джермер. [25] |
Это обстоятельство нужно учитывать при расчете дифракции медленных электронов. [26]
Их обычно используют в сочетании с дифракцией медленных электронов. [27]
Кроме данных о соответствии кристаллических решеток, дифракция медленных электронов позволяет получить ценные сведения о структуре чистой поверхности монокристаллов. [28]
Еще более интересные результаты были получены методами дифракции медленных электронов. [29]
Для определения периода поверхностной структуры используется метод дифракции медленных электронов. Положения атомов на перестроенной поверхности измеряются с помощью сканирующего туннельного микроскопа, а также по рассеянию ионов. [30]
Страницы: 1 2 3 4