Cтраница 1
Двойная дифракция обусловливает добавочные отражения, запрещенные с точки зрения структурного фактора. Примером является отражение ( 200) в кубических алмазных структурах от пленок соответствующей ориентации. [1]
Конусы лучей, приводящие к появлению линий Кикучи на электронно-дифракционной картине. [2] |
Двойная дифракция, однако, не вызывает отражений со смешанными индексами от гранецентрированных кубических структур или отражений, имеющих нечетную сумму индексов, о. [3]
Схема пространственной фильтрации Катрона.| Принцип двойной дифракции Аббе [ 4aJ и Вуда. [4] |
Принцип двойной дифракции, иллюстрируемый рис. 4, был описан Цернике в 1935 г. в качестве схемы для визуализации фазового контраста. Этот же принцип является исходным в опытах по пространственной фильтрации, описанных Марешалем и Кросом [1] в 1953 г. и О Нейлом [2] в 1956 г. Аналогичное устройство, изображенное на рис. 5, было предложено в 1960 г. Катрона и др. [3] для осуществления пространственной фильтрации. В настоящее время его широко используют для корреляционной фильтрации. [5]
Пространственная фильтрация. [6] |
Понятия двойной дифракции позволяют просто объяснить метод фазового контраста, используемый в микроскопии с целью преобразования невидимого слабого фазового контраста в хорошо видимый контраст интенсивности. [7]
В важности понятия двойной дифракции можно убедиться, если рассмотреть фильтрацию спектральных порядков, производимую перед второй дифракцией. В данном случае фильтрующая маска пропускает к линзе L2 только нулевой и четные дифракционные порядки. [8]
Наконец, используя понятия двойной дифракции, легче объяснить, почему при введении косого когерентного освещения разрешение увеличивается вдвое. [10]
Одновременно с увеличением разрешения при двойной дифракции изменяется форма аппаратной функции прибора. Величина побочных максимумов меньше, чем в сисаме Конна. Это делает аппаратную функцию прибора СП-101 более удобной для измерений: не требуется аподизация. [11]
Схема установки для оптической фильтрации. [12] |
Указанная фильтрация осуществляется в когерентном свете методом двойной дифракции. При первом процессе дифракции образуется Фурье-спектр сигнала. В результате второго дифракционного процесса формируется результирующий отклик системы. Плоскость фильтрации находится либо в задней фокальной плоскости линзы La, в которой одновременно располагается и изображение источника ( рис. 119, а), либо в плоскости изображения источника, что имеет место в случае второй схемы. [13]
Ag, на электронограмме отчетливо видны рефлексы двойной дифракции. [14]
Образцом другого типа, в котором имеет место двойная дифракция, являются монокристаллические пленки, содержащие большое количество двойников. В гранецентрирсванных структурах узлы обратной решетки двойников занимают некоторые из точек вдоль линий 111, проходящих через узлы обратной решетки матрицы, и делят расстояния между точками обратной кристаллической решетки матрицы на три части. Некоторые из этих рефлексов двойной дифракции соответствуют межплоскостным расстояниям d, которые согласуются с дифракционной картиной гексагонального кристалла. [15]