Вычисление - тест
Cтраница 1
Вычисление тестов для метода эталонных состояний показано. [1]
 |
Уровни тестирования ЭВМ при эксплуатации. [2] |
При вычислении тестов каждого уровня используется описание ( модель) устройств - объектов тестирования. Будем рассматривать следующие уровни описания дискретных устройств: схемный; функциональный или микроопе - рационный, или регистровых, передач; алгоритмический или архитектурный; системный. [3]
Это затрудняет вычисление тестов для больших схем. Кроме того, полнота проверки тестов, полученных с помощью систем генерации тестов, есть убывающая функция от числа вентилей. Из графика этой функции на рис. 8.4 видно, что для схем, содержащих свыше 1000 вентилей ( как для последовательных, так и для комбинационных схем), полнота проверки схемы падает ниже приемлемого уровня. [4]
 |
Схема к примеру 4. [5] |
Приведем несколько примеров вычисления тестов методом булевой производной. [6]
В методе таблиц истинности этап вычисления тестов отсутствует, так как тестовые наборы представляют собой множество 2 входных наборов схемы, где п - число входов. Затем находится минимальное покрытие таблицы - результата моделирования и, таким образом, минимальный тест схемы. Поясним сказанное примером вычисления для схемы, показанной на рис. 8.16, а. [7]
Описание схем на функциональном уровне сокращает затраты на вычисление тестов. К достоинствам описания функционального уровня относится также возможность использования одних и тех же тестов для различной схемной реализации одних и тех же функциональных устройств. [8]
С увеличением сложности схем в силу ограниченных возможностей существующих методов вычисления тестов и ограничений в их реализации процент обнаруживаемых неисправностей уменьшается. Это приводит к тому, что входной контроль не обнаруживает всех дефектов и в значительной степени тяжесть проверки падает на этап тестирования ТЭЗ и ЭВМ. К тому же возросшая сложность БИС и СБИС приводит к увеличению доли перемежающихся или временных неисправностей, обнаруживающихся только при работе системы. В связи с этим появляется необходимость тестирования ТЭЗ в условиях, близких к реальным, что достигается либо применением сложных стендов, эмулирующих работу системы, либо использованием эталонной ЭВМ в качестве стенда для проверки ТЭЗ в реальных условиях эксплуатации. [9]
 |
Улучшение наблюдаемости с помощью контрольных точек.| Управление обратной связью. [10] |
Избегайте использования схем с неуправляемыми петлями обратной связи, которые затрудняют вычисление тестов и снижают полноту проверки. [11]
Предварительное выделение классов эквивалентных неисправностей может существенно сократить число рассматриваемых неисправностей и снизить трудоемкость вычисления тестов и их моделирования. [12]
На алгоритмическом и системном уровнях перечисление возможных неисправностей невозможно из-за их большого числа. Поэтому на этих уровнях практикуется вычисление тестов не для обнаружения конкретных неисправностей или их сочетаний, а для проверки правильности функционирования алгоритма или системы при возможных сочетаниях операндов. [13]
 |
Модель короткого замыка-д ни я.| Зависимость полноты проверки от числа вентилей. [14] |
Большинство неисправностей, возникающих при эксплуатации, представляют собой замыкание линий на землю или на линию напряжения питания, короткие замыкания между сигнальными линиями, обрывы, отсутствие резисторов, пробои транзисторов, низкий коэффициент усиления или чрезмерные задержки, причем такие неисправности могут быть одиночными и кратными. Для вычисления тестов физические неисправности должны быть представлены их логическими моделями. Уровень описания определяет модели неисправностей и методы вычисления тестов. [15]
Страницы: 1