Cтраница 5
Как правило, рабочее напряжение изоляции должно быть ниже напряжения ионизации, соответствующего точке А на рис. 2.37. Следует считать более высококачественной такую изоляцию у которой напряжение ионизации бо - лее высокое, а подъем кривой ионизации после точки А более пологий. [61]
По методу критического наклона [4], разностью ионизационных потенциалов исследуемых молекул и молекул эталонного вещества принято считать расстояние по оси энергии электронов ( обычно ось абсцисс) между точкой на кривой ионизации исследуемых молекул и точкой на кривой ионизации вещества с известным потенциалом ионизации, в которых наблюдается отклонение от экспоненциального закона роста эффективности ионизации с увеличением энергии электронов. [62]
Сопоставление кривых, представляющих ионизацию антра-хинона и тршштротританола в растворах серной кислоты в пределах концентраций серной кислоты от 80 до 90 / о, с кривой, отвечающей константам скорости реакции нитрования нитробензола в растворах серной кислоты тех ше концентраций, показало полное совпадение последней кривой с кривой ионизации тринитротританола. [63]
При измерениях потенциалов появления положительных ионов энергетическая неоднородность электронов сказывается особенно существенно на начальном участке кривой ионизации, маскируя истинный ход кривой у порога ионизации. Кривые ионизации приближаются к оси энергии электронов асимптотически, так что определить строго однозначно порог появления ионов невозможно. Поэтому в многочисленных работах 50 - 60 - х годов для определения ПП применяли метод сравнения кривой эффективного выхода исследуемых ионов с кривой выхода ионов, ПП которых хорошо известен. Вещество с известным потенциалом ионизации ( обычно из спектроскопических данных) вводили в ионизационную камеру одновременно с исследуемым веществом. Были разработаны методы сравнения: линейная экстраполяция, метод критического наклона [63], экстраполированных разностей, исчезающего тока ионов и др. [64-67], которые широко применялись при определении потенциала появления ионов различных веществ. [64]
График зависимости tg 6 от напряжения ( рис. 17.12) называют кривой ионизации диэлектрика. По кривой ионизации оценивают качество электрической изоляции высокого напряжения: чем меньше приращение tg 6 вследствие ионизационных потерь ( tg 6И011) и чем при более высоких напряжениях ( 7ИОН начинается рост tg 8, тем изоляция лучше. Для повышения качества электрической изоляции высокого напряжения ее пропитывают, заполняя поры маслами, лаками, компаундами, газами под высоким давлением. [65]
Газовые включения в изоляции выявляются при измерении зависимости tg 6 от величины приложенного к изоляции напряжения. Такая зависимость называется кривой ионизации. [66]
Пример определения скрытой теплоты сублимации приведен ниже. Он также иллюстрирует значение второй производной кривой ионизации, полученной при электронном ударе, и характеризует точность, получаемую в этом процессе. Использование масс-спектрометра для измерения этой величины при прямом испарении углерода описано в следующем разделе и дает величину 171 ккал / моль для скрытой теплоты. [67]
В ряде случаев эта зависимость имеет характер, показанный на рис. 4, а именно: на некотором участке изменения U величина tg б почти неизменна, при увеличении же напряжения сверх определенного предела UaOH кривая tg б начинает резко повышаться. Изображенная на рис. 4 кривая называется кривой ионизации; точка А кривой называется точкой ионизации и соответствует началу ионизации ( образования короны или тихих разрядов, § 5) во включениях воздуха или других газов внутри изоляции. [68]