Cтраница 3
Для того, чтобы получить пучок, близкий к параллельному, следует пользоваться входными щелями одинаковой ширины. Если использовать расходящийся пучок, то первая от трубки щель должна быть меньше второй. Обратное соотношение размеров входных щелей лишь ухудшает геометрию съемки. [31]
Как отмечалось выше, каждый кристаллит, в котором одно из семейств плоскостей удовлетворяет уравнению Вульфа - Брэггов, дает отраженный луч. Если размеры кристаллов относительно невелики ( 0 1 2 и), то их число в объеме металла, участвующего в отражении, будет большим, как и общее число пучков отраженных лучей. Следы их на пленке в этом случае сливаются в одну сплошную линию, ширина которой определяется геометрией съемки. [32]
![]() |
Рентгеновский микроскопич. снимок среза кости Х50. Темные точки - гаверсовы каналы. [33] |
Этот метод применяется для определения тонкой структуры кристаллов в поверхностном слое поликристаллич. Первичный пучок рентгеновских лучей падает под очень малым углом ( 1 - 5) на поверхность поликристаллич. Разрешающая способность метода определяется селективностью дифракции рентгеновского излучения на элементах субструктуры, зависящей от их угловой дезориентации и расходимости первичного пучка, размеров фокуса применяемой трубки, а также расстояния от поверхности образца ло фотопластинка. Метод Шульца 116J отличается от метода Берга-Барретта тем, что в нем пользуются белым излучением и большими расстояниями от образца ( в виде монокристалла) до пленки. Геометрия съемки подобна предыдущему методу. Метод Бор р мая на - светлопольно-темно-польный, поскольку дифракционное изображение формируется одновременно и в дифракционном пучке нулевого порядка, н в пучке не нулевого порядка. В основу метода положен эффект Боррманна ( резкое снижение поглощения ха-рактеристич. Теория этого явления объяснена Лауэ на основе динамич. Эффект аномального прохождения весьма чувствителен к нарушениям совершенства строения кристаллов и используется для выявления локальных нарушений решетки дислокациями и атомами примеси. Разрешающая способность метода определяется условиями поглощения ц ( js 1 ( где и. Предел чувствительности метода к дислокациям 10Б дисл см-2. Метод Лэнга - темнопольный, в отличие от метода Боррманна; нарушения правильности строения кристаллич. [34]
Для проведения структурных исследований монокристаллов в дифрактометрах с наклонной геометрией типа ДАР-1 в работе [14] предложена конструкция низкотемпературного устройства, обеспечивающего возможность структурных исследований в интервале температур от 120 до 300 К. Это же устройство может быть использовано в дифрактометрах общего назначения типа ДРОН, например, в дифрактометре ДРОН-20. В этом устройстве охлаждение образца, укрепленного на гониометрической головке, производится в помощью ламинарного потока испаряемого азота, выходящего из сопла криостата. Температура струи азота может изменяться в пределах рабочего интервала температур ( 120 - 300 К) и поддерживается постоянной с точностью не хуже 0 5 при помощи системы автоматического регулирования. Такой способ охлаждения образца наиболее рационален с точки зрения геометрии съемки в дифрактометрах с неподвижной главной осью гониометра. [35]