Гибель - электрон
Cтраница 1
Гибель чзахваченных электронов, по мнению авторов, в щелочных стеклах происходит в результате рекомбинации с дырочными центрами. Полученные данные интерпретированы на основе туннельного механизма. Зависимость скорости самопроизвольной гибели захваченных электронов связана с глубиной захвата электронов в межмолекулярных ловушках. [1]
 |
Кривые Пашена для некоторых газов. [2] |
Учет процессов гибели электронов из-за диффузии приведет, естественно, к росту t / з - Это особенно заметно сказывается на левой ветви ( при р0Н ( роН) тт) кривых Пашена. [3]
Однако приведенное поле может возрастать из-за увеличения скорости объемной гибели электронов. [4]
Сравнительно быстрое уменьшение концентрации электронов происходит лишь под действием света с энергией, превышающей глубину ловушки, но и в этом случае квантовый выход гибели электронов существенно меньше единицы. Эти данные указывают на то, что рекомбинации электронов предшествует ряд последовательных захватов электронов в ловушки. Снижение квантового выхода во времени объясняется, по-видимому, тем, что в первую очередь рекомбинируют электроны, стабилизированные вблизи катиона, так как в этом случае вероятность повторного захвата в ловушку меньше. [5]
Пусть газ ионизируется только под действием внешнего ионизатора, обеспечивающего постоянную для всего разрядного промежутка объемную скорость ионизации z0 ( см 3-с 1), а гибель электронов и ионов происходит в результате электрон-ионной рекомбинации и дрейфа частиц к электродам. [6]
 |
Коэффициенты диффузионных потерь зарядов в СО2 и О. а. 1 - СО2, i / Rl8 ма / 2 - NO, i /. 6 8 лш / сл. б. / - СО2, М. 12 - 1016сж - 2. 2 - СО2 ВД 3 - 10шсл - 2. 3 - МО, ад12 - 1016сж - 2. 4 - N0. [7] |
Возрастание приведенной напряженности поля с изменением условий разряда, указывающее на затруднение горения разряда, может быть связано с затруднением ионизации из-за изменения химического состава газа, ускорением гибели электронов ( в объеме или на поверхности) или с деформацией электронной функции распределения, уменьшающей эффективность ионизации. Проведенные нами измерения показали, что отношение концентрации СО и СО2 в плазме мало меняется с током разряда и давлением, поэтому изменение химического состава газовой атмосферы не может объяснить наблюдаемых эффектов. [8]
Гц, что соответствует так называемому ВЧ-диапазону длин волн. Необходимая для поддержания ВЧ-разряда амплитуда поля определяется из условий баланса рождения и гибели электронов и в типичных условиях газовых лазеров близка к электрическим полям в разряде постоянного тока. [9]
Изменение этого параметра с током разряда показано на рис. 3, а. Полученные данные показывают, что возрастание приведенного поля с током нельзя объяснить ускорением диффузионной гибели электронов. Таким образом, причиной возрастания E / N может быть деформация электронной функции распределения или рост объемных потерь электронов. [11]
В электронной лавине поэтому число электронов меняется дискретными случайными ступенями ( рис. В. Для математической формулировки проблемы используются коэффициенты ионизации и прилипания, характеризующие интенсивность образования и гибели электронов. С их помощью можно вычислить зависящую от напряженности поля и числа начальных электронов вероятность того, что будет достигнуто критическое число электронов в лавине пк. [12]
Высказанные соображения позволяют качественно понять стабилизирующую и дестабилизирующую роль различных элементарных процессов. Например, объемная электрон-ионная рекомбинация служит стабилизирующим фактором, так как определяемая ею скорость гибели электронов Z / гг / геП ( - ооп, в то время как скорость ионизации атомов из основного состояния Z kinenaxne. Стабилизирует разряд и балластное сопротивление Кб во внешней электрической цепи. Действительно, в случае роста концентрации электронов ток, а следовательно, и падение напряжения на сопротивлении растут, а напряжение на разряде при постоянной ЭДС источника питания ео const падает. Уменьшение электрического поля, как следует из (3.26), приводит к уменьшению величин Гесо. Таким образом, из-за балластного сопротивления Z растет медленнее, чем оопе, а при больших R6 - даже падает. [13]
Напротив, большое число начальных электронов, как при длительном приложении напряжения, приводит к детерминированному поведению процесса. Большой разброс значений измеренного напряжения пробоя обусловлен случайными внешними условиями, например наличием пыли в системе. В неоднородном поле на процессы образования и гибели электронов не наложено каких-либо существенных ограничений, однако для понимания процесса необходимы численные расчеты. [14]
Страницы: 1