Глубина - линия
Cтраница 1
Глубина линий изменяется путем изменения нагрузки на резец либо с помощью микрометрического устройства. [1]
 |
Слабая линия поглощения ( а, линия. [2] |
Регистрируемая глубина линии увеличивается при сужении инструментального контура спектрального прибора. При бесконечно узком контуре регистрируемая глубина линии равна истинной. [3]
Пусть глубина линии скольжения h мала по сравнению с размерами поперечного сечения. [4]
Пусть глубина линии скольжения А мала по сравнению с размерами поперечного сечения. [5]
 |
Слабая линия поглощения ( а, линия. [6] |
Регистрируемая глубина линии увеличивается при сужении инструментального контура спектрального прибора. При бесконечно узком контуре регистрируемая глубина линии равна истинной. [7]
Для измерения эквивалентной ширины линий возможны два принципиально различных метода. Первый, традиционно принятый, заключается в построении даваемого спектральным прибором контура глубины линии поглощения и интегрировании его. [8]
Здесь К - длина волны, отсчитываемая от центра линии, а - глубина центра линии, ( 1 - а) - остаточная интенсивность центра линии, ДА, - полуширина линии, уменьшенная в 2 ] / In 2 1 66 раза. Линии поглощения обладают таким контуром, если основным процессом уширения является эффект Доплера, а глубина линии не очень велика. [9]
Здесь К - длина волны, отсчитываемая от центра линии, а - глубина центра линии, ( 1 - а) - остаточная интенсивность центра линии, ДА - - полуширина линии, уменьшенная в 2 / hi 2 1 66 раза. Линии поглощения обладают таким контуром, если основным процессом уширения является эффект Доплера, а глубина линии не очень велика. [10]
Из наблюдений следует, что многие звезды типа Т Тельца, называемые классическими ( CTTS), аккретируют вещество из диска. Наилучшее свидетельство аккреции, наряду с магнитосферными эмиссионными спектрами, дают оптические и ультрафиолетовые спектры классических звезд Т Тельца, для которых характерно уменьшение глубины фотосферных линий поглощения, вызванное сплошным спектром излучения из более горячих областей, расположенных выше фотосферы. Это излучение объясняется выделением энергии аккреции в ударном фронте на поверхности звезды и наблюдается только у тех звезд, которые имеют избыточное излучение в ближней инфракрасной области ( Л 2 5 мкм), свидетельствующее о наличии достаточно нагретого диска в непосредственной близости от звезды. [11]
Регистрируемая глубина линии увеличивается при сужении инструментального контура спектрального прибора. При бесконечно узком контуре регистрируемая глубина линии равна истинной. [12]
Регистрируемая глубина линии увеличивается при сужении инструментального контура спектрального прибора. При бесконечно узком контуре регистрируемая глубина линии равна истинной. [13]
Страницы: 1