Искатель - дефектоскоп
Cтраница 2
На рис. 9 показана схема действия одного из дефек-тоспоков. При передвижении по изделию 1 искатель дефектоскопа 5 притягивается сильнее к тому месту, где имеется дефект. [16]
 |
Схема магнитного дефектоскопа. [17] |
На рис. 12 показана схема действия одного из дефектоскопов. При передвижении по изделию 4 искатель дефектоскопа 2 притягивается сильнее к тому месту, где имеется дефект. Это объясняется тем, что в местах нахождения дефекта магнитные силовые линии рассеиваются и на краях дефекта образуется полюсность. Световой сигнал указывает на имеющийся дефект и его расположение в изделии. [18]
В табл. 4 приведены основные параметры ультразвукового контроля электрошлаковых швов. Выявляемость дефектов в электрошлаковых швах в значительной степени зависит от угла наклона искателя дефектоскопа, определяющего угол ввода ультразвуковых колебаний в изделие. [19]
 |
Схемы контроля велосимет-рическим методом. [20] |
При наличии двустороннего доступа целесообразно использовать второй и четвертый варианты метода, при доступе с одной стороны - первый и третий. Приемные и излучающие преобразователи искателей велосииетрнче-скпх дефектоскопов выполняют в виде составных иьезо-электрпческих вибраторов ( Ланжевена), работающих на фиксированных собственных частотах. [21]
В последние годы были достигнуты определенные успехи в разработке способа измерения площади дефектов поковок и проката. Этот метод базируется на экспериментальном измерении максимальной амплитуды импульса, отраженного от дефекта, и коэффициента затухания ультразвука в материале изделия. Подставляя указанные величины в теоретически найденную зависимость, или пользуясь номограммами [3], можно найти площадь плоского дефекта, поверхность которого параллельна плоскости искателя дефектоскопа. [22]
Имитатор дефектов соединяется высокочастотным разъемом с гнездом дефектоскопа, в которое, обычно, включается искатель. Зондирующий импульс дефектоскопа проходит через два разделительных каскада, регулируемую задержку времени и возбуждает генератор имитатора дефектов. Импульс последнего ослабляется калиброванным аттенюатором и затем подается на вход усилителя дефектоскопа. Искатель дефектоскопа при этом включается в гнездо имитатора. [23]
Страницы: 1 2