Глубина - поле - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Ничто не хорошо настолько, чтобы где-то не нашелся кто-то, кто это ненавидит. Законы Мерфи (еще...)

Глубина - поле

Cтраница 1


1 Число N ( L геометрических особенностей размера L на единице длины как функция L ( CM для образцов песчаника с плато Коко-нино.| Фрактальная размерность поверхности пор в песке и песчанике по измерениям вторичной электронной эмиссии. Пористость измерялась непосредственно и оценивалась из соотношения ф ( 1 / 2 3 [ Ю6 ]. [1]

Глубина поля сканирующего электронного микроскопа уменьшается при увеличении разрешения, так что она всегда меньше глубины пор на поверхности образца. Поэтому на самом деле интенсивность вторичной электронной эмиссии определяется свойствами пересечения линии сканирования с пористой поверхностью.  [2]

3 Схематическое изображение объема раствора, в котором производится подсчет частиц. а, - форма и расположение объема. б-вид окулярной сетки на фоне освещенного конуса в ультрамикроскопе. [3]

Глубина поля зрения микро скопа должна быть заранее известна.  [4]

Глубина поля изображения, или вертикальное разрешение-расстояние между точками объекта и плоскостью идеальной фокусировки, для которых размер кружка размытия остается в пределах разрешающей способности.  [5]

6 Схематическое изображение объема раствора, в котором производится подсчет частиц.| Схема, иллюстри-грующая представление о глубине поля зрения. [6]

Глубина поля зрения микроскопа должна быть заранее известна.  [7]

8 Общий вид ультрамикроскопа Цеасса. [8]

Следует помнить, что глубина поля зрения объектива микроскопа должна превосходить высоту вышеуказанного параллелепипеда, иначе не все частицы будут наблюдаться.  [9]

10 Число N геометрических особенностей размера Iff N L на единице длины как функция L для образцов песчаника. [10]

Для изотропных фракталов это ограничивает глубину поля зрения. По мере увеличения разрешающей способности глубина поля сканирующего электронного микроскопа уменьшается, но всегда остается меньше глубины пор на поверхности исследуемого образца.  [11]

12 Влияние температуры нагрева, С, сплава ОТ4 - Щ в воздухе ( 15 мин. [12]

Толщина этого слоя крайне неравномерна вдоль поверхности и по глубине поля микрошлифа.  [13]

Обычные микроскопы конструируют так, чтобы они имели большое поперечное увеличение, правда, за счет ограниченной глубины поля. Статический объект можно сканировать по глубине поля, рассматривая последовательно каждый уровень глубины. Но для динамических объектов, особенно таких, положение которых меняется во времени, этот прием не годится. Только голографический микроскоп, использующий лазер с повторяющимся импульсным излучением для регистрации серии последовательных во времени голограмм, может записать всю информацию в объеме динамического объекта. При восстановлении объектные волновые фронты можно подробно исследовать в том месте, в котором происходило интересующее нас событие, или проследить за разлитием серии событий.  [14]

15 Опыт Перрена. Слой эмульсии - в кювете имел глубину 0 1 мм. Глубина поля зрения микроскопа была столь мала, что были видны лишь частицы, находившиеся в слое толщины примерно 1 мкм, что составляло несколько диа. [15]



Страницы:      1    2    3