Глубина - штрих
Cтраница 1
Глубина штрихов на стальных кольцах допускается не более 2 мм, на графитовых - не более 4 мм. [1]
 |
Зависимость интенсивностей.| Зависимость интенсивностей - 1-го ( I-i и 0-го ( Jo порядков бинарной решетки от высоты штриха для ТЕ-поляризации при d А, в 30. [2] |
Во-вторых, при глубинах штриха 0Э22А и 0 72А энергия падающей волны концентрируется в - 1 - м порядке, т.е. при данных глубинах решетку можно использовать дефлектор ( отклонитель) пучка. [3]
Для получения правильных результатов измерения глубины узких штрихов необходимо, чтобы разрешающая сила и увеличение прибора были достаточными для раздельного рассмотрения граней штрихов. При особо точных измерениях высоты ступенек следует учитывать зависимость цены интерференционной полосы от апертуры пучка лучей, падающего на исследуемую поверхность. [4]
Толщина слоя обычно несколько превышает глубину штрихов и составляет примерно 1 / 3 постоянной решетки. Для решеток, имеющих от 2400 до 200 штрихов на 1 мм, например, применяются слои толщиной от 0 2 до 2 мкм, коэффициенты отражения которых в видимой области составляют от 85 до 90 %, часто снижаясь при К 300 нм. Для решеток-эшелле требуются слои толщиной до 25 мкм. [5]
За критерий оценки состояния поверхности, согласно этому методу, принято изменение глубины штрихов, полученных при шлифовке. Количественная характеристика профиля поверхности осуществляется с помощью оптического метода, основанного на применении микроинтерферометра системы проф. [6]
Для спектральных исследований в вакуумной ультрафиолетовой и рентгеновской областях необходимы решетки, у которых рабочие плоскости штрихов составляют с поверхностью углы от 30 до 5, а глубина штрихов измеряется сотыми долями микрометра. Поэтому решетки небольших размеров для указанной области нарезаются непосредственно на заготовках из стекла Ф1 путем пластической деформации. Однако в данном случае, в отличие от решеток на слоях алюминия, ширина отдельного штриха меньше постоянной, а участки поверхности между штрихами наклоняются резцом на разные углы в зависимости от нагрузки на него и несколько смещаются в сторону. Профиль резца не воспроизводится на штрихе. Преимущество решеток на стекле заключается в возможности многократного нанесения на них покрытий, повышающих отражение в вакуумной ультрафиолетовой области. [7]
Допускаются штрихи неопределенного направления не более трех на длине 1 см, но не более десяти на всей поверхности кольца. Глубина штрихов на стальных кольцах допускается не более 2 мм, на графитовых - не более 4 мм. [8]
Как известно, при интерференции двух волн интенсивность в каждой полосе изменяется по синусоидальному закону. Детали профиля и глубина штрихов, определяющие отражательные свойства решетки, зависят от толщины и свойств слоя фоторезиста, экспозиции и режима обработки. В области длин волн, значительно меньших постоянной, спектральные коэффициенты отражения голографической решетки по сравнению с нарезной ниже не менее, чем в два раза. [9]
Для прочности на рабочую поверхность методом испарения в вакууме наносится слой хрома, а затем алюминия. Толщина слоя алюминия должна соответствовать глубине штрихов решетки. Нарезание штрихов осуществляется алмазными резцами, лезвия которых образованы пересечением двух цилиндров. Технологический процесс предусматривает получение высокого качества рабочих граней штрихов. Деформация затрагивает в основном нерабочую, крутую грань, изменяя ее форму и наклон. Чем меньше постоянная решетки, тем труднее ее изготовлять. [10]
Заданную фактуру ( штриховую или лучевую) на поверхности изделий получают с помощью шаблона, щупа и гидропневматической системы, Связанной с резцовой головкой станка. Для однородности фактуры важное значение имеет непрерывность и глубина штрихов. [11]
 |
Интерферограммы хорошей ( б и плохой ( а дифракционных решеток. [12] |
В случае большой решетки алмаз к концу нарезки проходит путь до 10 км и больше. За это время он стирается, поэтому форма и глубина штриха в конце нарезки несколько отличаются от начальной. [13]
 |
Спектральная пиния Не - Ne-лазера ( Л 6328 А, зарегистрированная с передержкой на спектрографе ДФС-8. Видны духи и крылья контура монохроматического рассеяния. [14] |
В случае большой решетки алмаз к концу нарезки проходит путь до 10 км и больше. За это время он стирается, поэтому форма и глубина штриха в конце нарезки несколько отличаются от начальной. С этим связано заметное фокусирующее действие некоторых плоских решеток, которое, однако, не вызывает существенных неудобств при работе. Алмаз, режущий решетку по мягкому металлу, выдавливает его, создавая довольно сложный профиль штриха, который не всегда точно воспроизводится. Поэтому инструментальный контур и распределение энергии по порядкам не совсем точно совпадает с расчетным. [15]
Страницы: 1 2