Большая глубина - фокус
Cтраница 1
Большая глубина фокуса, высокая разрешающая способность и обилие полутонов на изображении, полученном в РЭМ, создают впечатление объемности и часто позволяют правильно представить себе пространственную конфигурацию деталей исследуемого объекта. При сложном рельефе, характерном для изломов, не всегда удается получить трехмерную реконструкцию по одной плоской проекции. В таких случаях для усиления эффекта объемности изображения проводят съемку стереопар исследуемого участка, изменяя его наклон по отношению к зонду на 5 - 10 в зависимости от увеличения. Изменение угла наклона образца обычно производят механическим способом с помощью гониометра, однако эту операцию также можно проводить, наклоняя зонд и не изменяя при этом положения образца. Стереопары рассматривают с помощью простейших стереоскопов, в которых впечатление объемности создается за счет эффекта параллакса. Количественную оценку деталей рельефа на микрофотографиях ( измерение глубины, высоты и углов наклона) осуществляют с помощью стереокомпараторов по методикам, используемым в картографии. [1]
Сканирующий электронный микроскоп характеризуется большой глубиной фокуса, относительно высокой разрешающей способностью ( около 100 А), простотой препарирования объекта и слабой интенсивностью падающего электронного пучка. [2]
Метод является весьма информативным благодаря большой глубине фокуса и наличию широкого набора увеличений. [3]
Еще одним важным преимуществом электронного пучка является большая глубина фокуса, которую можно получить в электронно-оптических системах, по сравнению с оптическими. Большая глубина фокуса позволяет значительно ослабить жесткие требования к проекционным системам, связанные с местоположением и плоскостностью подложек. [4]
РЭМ не превышает 10 - 50 тыс. Благодаря большой глубине фокуса растровый микроскоп дает почти трехмерное изображение. Контрастирование пористой аморфной структуры в РЭМ, как правило, проводится с помощью двойного напыления ( углерод-золото) на поверхность образца. Тонкодисперсный порошок углерода заполняет тонким аморфным слоем рельеф поверхности образца; сверху он оттеняется слоем золота, атомы которого свободно диффундируют и отводят электрический заряд, образующийся на поверхности образца под действием мощного электронного пучка. [5]
Еще одним важным преимуществом электронного пучка является большая глубина фокуса, которую можно получить в электронно-оптических системах, по сравнению с оптическими. Большая глубина фокуса позволяет значительно ослабить жесткие требования к проекционным системам, связанные с местоположением и плоскостностью подложек. [6]
 |
Блок-схема генератора видеосигналов с разверткой бегущим лучом для.| Сигнал, создаваемый устройством с разверткой бегущим лучом при средней длительности послесвечения люминофора. [7] |
Применяются линзы типа увеличительных с коррекцией для плоского поля. Так как большой глубины фокуса не требуется, фокусное расстояние линз должно быть как можно меньше, чтобы обеспечить максимальную концентрацию света. Оно должно быть также небольшим и для получения экономичной оптической системы. Разработаны специальные линзы для кинескопов с разверткой бегущим лучом, позволяющие использовать ультрафиолетовую составляющую света. [8]
Метод исследования с помощью РЭМ представляет особый интерес для анализа реальных поверхностей трения, имеющих обычно глубокий рельеф. Дело в том, что вследствие особенности конструкции РЭМ обладает чрезвычайно большой глубиной фокуса. [9]
Рассмотренные выше свойства изображения очень ценны, так как они позволяют определять геометрию дислокации в пространстве. Они дают нам шкалу глубины, которая полностью отсутствует в электронном микроскопе из-за большой глубины фокуса. Оказывается возможным, например, оценить глубину данного отрезка наклонной дислокации в плоскопараллельной фольге. Если дислокация параллельна одной плоскости клиновидной фольги, то по осциллирующему контрасту можно определить расстояние от дислокации до другой плоскости клина. Выполняется ли указанное условие или нет, можно установить сравнивая периоды контуров клина в боковом направлении и осциллирующего контраста. [10]
Это значит, что для записи можно использовать микрообъективы с пониженной числовой апертурой. Наряду с тем, что понижение числовой апертуры позволяет проще добиться качественного пятна и большей глубины фокуса, появляется еще одно важное преимущество: в радиальном направлении питы более широкие и имеют меньший наклон стенок. Такая более широкая структура обеспечивает увеличение оптического сигнала для импульсной системы слежения за дорожкой без ухудшения сигнала высокой частоты, получаемого по методу ЦА ( центральной апертуры, см. стр. Это обстоятельство очень выгодно для проигрывателя CD, в котором применен пушпульный метод слежения. [12]
Если глубина фокуса - 1 мкм, то все точки объектов просвечивающего микроскопа, обычно имеющих толщину - 0 1 мкм, фокусируются. Более того, получается четкое изображение таких рельефных объектов, как реплики с поверхности излома. Большой глубиной фокуса объясняется известная конструктивная особенность фотокамеры электронного микроскопа: флюоресцирующий экран, на котором проводится фокусировка изображения, расположен примерно на 1 см выше плоскости фотопластинки, регистрирующей изображение. [13]
 |
Растровые электронно-микроскопические снимки поверхности различных веществ. [14] |
Этот метод используют для фиксации неоднородностей поверхностей на микрометровом и субмикрометровом уровнях. Оже-электроны, характеристическое рентгеновское излучение ( Х - излучение) и фотоны различных энергий. Объемность объекта фиксируется за счет большой глубины фокуса микроскопа и эффекта оттенения рельефа контраста во вторичных электронах. [15]
Страницы: 1