Диффракция

Cтраница 1

Диффракция от щели показывает аналогичную зависимость от длины волны. [1]

Диффракция наблюдается и у краев отверстия объектива, так что при одной и той же структуре и при разных объективах имеется различное разрешение. Наименьшее расстояние двух линий или двух точек, когда они могут быть разрешены, пропорционально длине волны X, зависят от свойств объектива микроскопа. [2]

Диффракция очень быстро движущихся электронов почти исключительно зависит от атомных ядер; относительные положения ядер могут быть теперь определены благодаря тому, что разработана теория диффракции электронов. [3]

Изображение двойной.| Схема ультрамикро -. скопа. [4]

Диффракция в микроскопе не поволяет различать детали объектов, имеющих размеры, меньшие половины длины волны. При любых угловых апертурах объектива диффракционные круги, окружающие детали объекта, сливаются, если их расстояние меньше полуволны и уже неразличимы в отдельности. Очевидно, чем меньше длина волны света, тем больше будет разрешающая сила микроскопа. Поэтому в последнее время делают для микроскопов специальные оптические линзы из кварда, флуо-рита и каменной соли, пропускающие ультрафиолетовые лучи. Микрофотографии, полученные в ультрафиолетовых лучах, дают возможность рассмотреть более тонкие детали объекта вследствие малости длины волны. [5]

Диффракция - вообще явления, имеющие результатом непрямолинейное распространение волн. [6]

Диффракция - явления, возникающие при нарушении непрерывности фронта волны ( см.) и приводящие к огибанию волнами препятствий, лежащих на пути распространения волн. [7]

Диффракция света в данном случае наблюдается в плоскости, где условно показано схождение лучей от различных участков освещенного отверстия. Точка А соответствует центру диффракционной картоны, изображенной в нижней части рисунка. При удалении от отверстия диф-фракцлонные полосы становятся все шире и шире. Для более отчетливого их наблюдения в этом случае применяются собирающие линзы. [8]

Диффракция электронных волн де Бройля аналогична диффрак-ции световых - волн. [9]

Диффракция единичной волны была исследована автором в Ргос. [10]

Вышеупомянутая диффракция пучка электронов, падающих с определенной скоростью ва изучаемый объект, позволяет получать фотографии рассеянных электронных лучей или электронограммы, используемые для расшифровки многих деталей строения аморфных и кристаллических веществ, и без применения электронного микроскопа. В СССР работы по изучению структуры окисных пленок на кристаллах железа, алюминия и других металлов провели Данков и Шишаков. [11]

Диффракцию наблюдают также при отражении от плоскости кристалла. [12]

Диффракцией можно пользоваться как способом получения интерференции, так как различные вторичные лучи могут быть собраны в фокусной плоскости телескопа, при условиях, необходимых для интерференции. [13]

Диффракцией света называется явление огибания световыми волнами препятствий стоящих на пути распространения света. [14]

Диффракцией света называется явление огибания световыми волнами препятствий, стоящих на пути распространения света. [15]

Страницы: 1 2 3 4