Диффракция - рентгеновские лучей
Cтраница 2
Существование солей ацилия доказано методом диффракции рентгеновских лучей кристаллические солей. Положительный заряд иона ацилия делокализовая с участием атома кислорода. [16]
С другой стороны, методом диффракции рентгеновских лучей [24] было показано, что желатина, осажденная на серебряную пластинку, ориентируется определенным образом в контакте с металлом и что после сушки эту ориентацию можно еще обнаружить на расстоянии 1 р от поверхности металла. Согласно этим измерениям, степень ориентации уменьшается по мере удаления от поверхности металла, что указывает на уменьшение энергии взаимодействия между желатиной и серебром в этом же направлении. [17]
Метод определения величины частиц кристаллов по диффракции рентгеновских лучей был предложен Шеррером [62], установившим тот факт, что очень маленькие кристаллы обусловливают появление широких диффракционных колец в дебаеграммах, и вывел теоретическое соотношение между шириной колец и величиной частиц для кубических кристаллов. [18]
 |
Схема метода Лауэ. [19] |
Тибо ( 192 /) получил диффракцию рентгеновских лучей от обычной искусственной стеклянной решетки 200 штрихов на 1 мм), отражая от нее лучи под очень малым углом. [20]
Для изучения полиморфизма глицеридов используют также метод диффракции рентгеновских лучей, который дает существенную информацию об угле наклона углеводородных цепей к поверхности кристаллической ячейки. [21]
Недавно Т ибо ( 1927) получил диффракцию рентгеновских лучей от обычной искусственной стеклянной решетки ( 200 штрихов на 1 мм), отражая от нее лучи под очень малым углом. Си он получил X 1 540 А, в то время как диффракция от кристалла каменной соли с вышеприведенным d дает 1 538 А. [22]
Существенной особенностью электронной диффракции по сравнению с диффракцией рентгеновских лучей является то, что электроны рассеиваются как зарядом атомных ядер, так и электронной оболочкой атома. Поэтому электронографически можно определять положение атомов водорода и даже протонов в кристаллической решетке. [23]
Наилучший способ установления кристалличности полимеров заключается в использовании метода диффракции рентгеновских лучей. [24]
Другой метод определения электронного заряда основывается на измерении угла диффракции рентгеновских лучей в кристалле известного строения. В выражение для е входят угол скольжения при отражении рентгеновского луча ( см. стр. [25]
Наилучший способ установления кристалличности полимеров заключается в использовании метода диффракции рентгеновских лучей. [26]
 |
Распределение валентных зарядов в Si. Показаны контуры постоянной плотности.| Схематическое изображение. [27] |
В недавней работе Янга и Коппенса [3.26] также с помощью диффракции рентгеновских лучей найдено распределение зарядов на связях в Si. [28]
Менее прямое доказательство дает детальное изучение структуры кристаллов при помощи диффракции рентгеновских лучей, а также изучение свободных молекул методом электронной диффракции, дающим точные сведения о межатомных расстояниях и углах между связями. Данные такого характера будут рассмотрены в следующих главах. Некоторые физические свойства кристаллов, например молекулярная рефракция и константа упругости, также могут дать указание о типе связей. Здесь следует упомянуть об очень важных теоретических работах по вычислению энергии решетки, приведших к оценке относительной важности гомеополярного, ван-дер-ваальсов-ского и ионного притяжения между ионами в таких кристаллах, как: кристаллы галогенидов щелочных металлов. [29]
Гоппе [18] исследовал структуру полимеров цианинов типа хлорида псевдоцианина методом диффракции рентгеновских лучей. [30]
Страницы: 1 2 3 4