Испытательная головка

Cтраница 3

В основной комплект прибора входят следующие узлы: испытательная головка со сменными нагрузочными ста -, капами для приложения и снятия предварительной и общей нагрузок и измерении твердости но шкале гн-дикатора; струбцина с подъемным винтом и сменными столами; кронштейн для закрепления струбцины с испытательной головкой на столе или на верстаке. [31]

В основной комплект прибора входят следующие узлы: испытательная головка со сменными нагрузочными стаканами для приложения и снятия предварительной и общей нагрузок и измерения твердости по шкале индикатора; струбцина с подъемным винтом и сменными столами; кронштейн для закрепления струбцины с испытательной головкой на столе или на верстаке. [32]

Техническая характеристика переносных твердомеров Ивановского ПО Точприбор. [33]

Эти приборы состоят из двух основных узлов: испытательной головки и съемного стола для крепления к детали. Испытательная головка, в которую входят нагружающий и силоиз-мерительный механизмы, микроскоп МПВ-1 для измерения отпечатков и батарейный источник питания с электролампочкой микроскопа, вращается вокруг вертикальной оси. В головке закреплена державка с двумя-тремя сферическими инденторами диаметром 2 5; 5 и 10 мм. Нужный индентор устанавливают в рабочее положение вращением державки вокруг своей оси. После нанесения отпечатка испытательную головку отводят в сторону до упора. В этом положении ось микроскопа совпадает с центром отпечатка. Приборы позволяют выполнять несколько испытаний в разных точках детали при однократном креплении; для этого головка прибора перемещается в пазах опорного стола. Приборы обеспечивают плавное приложение нагрузки на индентор ( погрешность испытательной нагрузки не превышает 1 %), прицельное нанесение отпечатков в выбранную точку на поверхности испытуемого материала. [34]

В зависимости от формы и габаритных размеров испытуемых деталей испытательная головка может быть установлена на магнитном захвате или струбцине, которые являются вспомогательными приспособлениями. [35]

В зависимости от формы и габаритных размеров испытуемых деталей испытательная головка может быть установлена на магнитном захвате, или струбцине, которые являются вспомогательными приспособлениями. [36]

Механизм подъема и опускания испытательной головки служит для подвода испытательной головки к поверхности испытуемой детали. Он смонтирован на корпусе и состоит из зубчатой и винтовой передаточных пар. Гайка винтовой пары жестко связана с ползуном, который через промежуточную деталь соединен с испытательной головкой. Испытательную головку перемещают вручную, вращая поворотную ручку, а крепят ее к механизму подъема и опускания гайками. [37]

Механизм подъема и опускания испытательной головки служит для подвода испытательной головки к поверхности испытуемой детали. Он смонтирован на корпусе и состоит из зубчатой и винтовой передаточных пар. Гайка винтовой пары жестко связана с ползуном, который через промежуточную деталь соединен с испытательной головкой. Испытательную головку перемещают вручную, вращая Поворотную ручку, а крепят ее к механизму подъема и опускания гайками. [38]

Стенд состоит из следующих основных узлов: / - испытательной головки, 2-стола стенда, 3 - привода стенда, 4-кривошипного механизма, 5 - аккумулятора давления. [39]

Схема автоматического твердомера. [40]

Червячный редуктор 14 в основании твердомера позволяет НЕ ремещать испытательную головку прибора в пределах, ограничь заемых механизмом 12, который настраивается по размерам испь туемых изделий. [41]

Отверстие это перекрывается подвижным в вертикальной плоскости затвором, на котором закреплена задняя испытательная головка. [42]

Технические данные приборов для контроля физико-механических свойств.| Технические данные вихретоковых измерителей удельной электрической проводимости. [43]

Прибор МЭИ-Т7 ( рис. 8.9) состоит из двух основных узлов: испытательной головки и съемного стола для крепления к детали. Испытательная головка, в которую входят нагружающий и силоизме-рительный механизмы, микроскоп для измерения отпечатков и контроля микроструктуры, источник питания ( батарея) с электролампочкой для микроскопа, вращается вокруг вертикальной оси. В головке закреплена державка с двумя-тремя сферическими инденторами диаметром 2 5; 5 и 10 мм. Нужный индентор устанавливается в рабочее положение вращением державки вокруг оси. После нанесения отпечатка испытательную головку отводят в сторону до упора. В этом положении ось микроскопа совпадает с центром отпечатка. [44]

От одноголовочного агрегата передающее напряжение порядка 102 - 103 В подается одновременно на испытательную головку и на вход усилителя. Наблюдается эффект запирания передаваемого импульса. Вместе с тем, кроме уменьшения усиления, часто происходит отклонение от линейности. Следствием этого при испытании образцов является то, что сигналы, которые получаются в результате отражения вблизи поверхности, проявляются на экране очень слабо или вообще не проявляются. Этот факт сильно затрудняет испытание тонкостенных изделий и определение расположенных вблизи от поверхности неоднородностей. [45]

Страницы: 1 2 3 4