Искривление - интерференционная полоса
Cтраница 1
Искривление интерференционных полос, вызванное несовершенством оптических деталей интерферометра, приводит к систематической ошибке измерений. Поэтому допуск на искривление полос должен быть установлен в пределах точности измерений. Интерферометры второй группы требуют строгой локализации полос в заданной плоскости измерений. Это обстоятельство предъявляет высокие требования к качеству юстировки. [1]
 |
Плоские стеклянные пластины. а - нижняя, б - верхняя.| Схема контроля плоскостности рабочих поверхностей инструментов интерференционным методом. [2] |
Величину искривления интерференционных полос определяют следующим образом. Если края полосы смещены на 0 3 ширины полосы, это значит, что отклонение от плоскостности поверхности 0 3x0 3 0 09 мкм. [3]
Ятах определяется по искривлению интерференционных полос. Отсчет производится визуальным наблюдением или по фотографии профиля исследуемой поверхности. [4]
Мерой разрушения служит степень искривления интерференционных полос, наблюдаемых при рассмотрении поверхности стекла на границе раздела разрушенной и неразрушенной частей поверхности. [5]
 |
Схема искривления интерференционных полос отдельной риской на поверхности изделия. [6] |
На рис. 124 схематично изображено искривление интерференционных полос отдельной риской на поверхности изделия. [7]
 |
Интерференционный микроскоп МИИ-4. [8] |
Масштаб высот неровностей, вызывающих искривление интерференционных полос, определяется длиной световой волны К. [9]
Возникающая разность хода проявляется в искривлении интерференционных полос. Форма интерференционной кривой определяется градиентом показателя преломления. Простота оптической настройки, отсутствие дифракционных явлений и высокая чувствительность делают поляризационный интерферометр одним из самых удобных современных приборов для определения градиента показателя преломления. [10]
 |
Интерференция лучей, отраженных от соответственных точек диффузной поверхности.| Локализация интерференционных полос при. [11] |
Это объясняется главным образом неоднозначностью связи искривления интерференционных полос с изменениями формы исследуемого объекта. Здесь эти вопросы не могут подробно обсуждаться, и в дальнейшем мы ограничимся только некоторыми рассуждениями. [12]
Отступление исследуемого профиля от прямолинейности измеряется по искривлению интерференционных полос. Прибор позволяет наблюдать весь профиль поверхности одновременно с интерференционной картиной и измерять как общее искривление поверхности, так и местные ее дефекты. Благодаря наклонному падению лучей на поверхность могут контролироваться не только полированные, но и грубо обработанные поверхности. [13]
При контроле поверхностей, изготовленных с отклонениями, наблюдается искривление интерференционных полос. По характеру их искривления можно судить о выпуклости или вогнутости поверхности и легко определить величину этого отступления от плоскостности. [14]
Все отклонения от идеально плоской поверхности будут видны в виде искривлений интерференционных полос. Измеряя величину отклонений полос, можно рассчитать глубину шероховатостей. [15]
Страницы: 1 2 3