Cтраница 5
Она применима лишь для граней с высокой отражающей способностью. Поэтому для исследования поверхности слабо отражающих граней приходится конденсировать на них тончайшие серебряные ( или алюминиевые) слои. [61]
![]() |
Преобразованные полуширины линий различных. [62] |
С увеличением степени разветвления разброс в распределении ширины линий становится весьма заметным, причем и наклон ( деформация) также возрастает. Аномальное расширение линий зависит от кристаллографического положения отражающих граней решетки по отношению к сс-оси кристалла полиэтилена. Как показывают измерения расширения линий с различными длинами волн ( только расширение линий, связанное с размерами частиц, зависит от длины волны), аномальный ход расширения линий обусловлен только влиянием размеров частиц. [63]
![]() |
Дифракция света в отраженном свете от плоских дифракционных решеток. [64] |
При работе с обычными решетками интенсивность линий в спектрах разных порядков убывает пропорционально квадрату порядка. Если же штрихи имеют пилообразную форму, когда отражающая грань а не лежит в плоскости ( см. рис. 19), а наклонена к ней, то распределение интенсивностей меняется. Наклон этой грани во многом определяет угол блеска решетки: в направлении зеркального отражения от этих граней решетка дает максимум интенсивности. [65]
Мы рассматривали решетку, в которой зеркальные участки штрихов расположены в одной плоскости. Однако при нарезании решеток металл выдавливается резцом и отражающие грани штрихов наклонены к плоскости решетки, что приводит к нарушению распределения интенсивностей по спектрам разных порядков. Такие решетки называют решетками с профилированным штрихом. [66]
Грани призмы обозначены буквами бис, длина хода луча в призме - буквой L. Цифрой / обозначены преломляющие грани призм, цифрой 2 - отражающие грани призм. [67]