Использование - дифракция
Cтраница 2
 |
Схемы контроля объектов с использованием методов отражения. [16] |
Дельта-метод ( рис, 2.3, в) основан на использовании дифракции волн на дефекте. Часть падающей на дефект поперечной волны от излучателя 2 отражается зеркально, а другая часть дифрагирует в виде поперечной и трансформированной продольной волн. При отражении волна также частично трансформируется в продольную волну. Дифрагированная продольная волна поступает на приемник 4 продольных волн, который несколько позднее принимает также продольную волну, отраженную от нижней поверхности изделия. [17]
Имеются и другие методы, например измерение удельной теплоемкости и давления паров тонкодисперсных порошков или аномальных межплоскостных расстояний в решетке на поверхности при использовании дифракции электронов. Большинство этих методов, однако, имеет сомнительную ценность. [18]
Естественно возникает вопрос, нельзя ли каким-либо более прямым методом обнаружить в стеклах микрообласти с приблизительно правильной кристаллической структурой. Применение методов, основанных на использовании дифракции рентгеновских, электронных или нейтронных лучей, не дает, к сожалению, достаточно убедительных результатов вследствие малости размеров таких областей и значительных искажений решетки. Это приводит к сильному размытию дифракционных колец, их переналожению, и в результате получаются невыразительные, трудно поддающиеся истолкованию кривые углового распределения интенсивности рассеянных лучей. [19]
Можно выделить два главных вида некогерентной обработки, и ниже приведено их краткое описание, но только в простейшем виде, потому что они выходят за рамки содержания данной книги. Первый метод снова имеет отношение к использованию дифракции, а второй основан исключительно на геометрических принципах, в которых дифракция не играет активной роли. [20]
Пары ионов Мп2, расположенные по противоположным сторонам каждого из ионов О2 -, обладают взаимно противоположными магнитными моментами. Существование такой структуры подтверждается экспериментами с использованием дифракции нейтронов. Магнитные моменты расположены антипараллельно так, что они взаимно компенсируются, и вещество проявляет свойства антиферромагнетика. Так как магнитным моментом обладают только ионы Ре в lGd - местах, то тело становится аптиферромагнетнком, если эти моменты расположены антипараллельно. [21]
 |
Схема интерферометра Жамена. [22] |
Благодаря применению реперных полос уменьшается влияние механических деформаций прибора и повышается точность измерений. Другой особенностью интерферометров рэлеев-ского типа, связанной с использованием фраунгоферовой дифракции, является необходимость применения небольших расстояний между щелями, а значит, и между кюветами со сравниваемыми веществами. [23]
 |
Схема интерферометра Жамена. [24] |
Благодаря применению реперных полос уменьшается влияние механических деформаций прибора и повышается точность измерений. Другой особенностью интерферометров рэлеевского типа, связанной с использованием фраунгоферовой дифракции, является необходимость применения небольших расстояний между щелями, а значит, и между кюветами со сравниваемыми веществами. [25]
Изучение физических процессов, происходящих в источниках света, подробная разработка теоретических основ спектрального анализа, точные метрологические измерения, атомные исследования ( изучение изотопических смещений) невозможны без приборов высокой разрешающей способности. Разработка таких приборов может быть осуществлена на основе многолучевой интерферометрии или с использованием дифракции света в высоких порядках. [26]
В табл. 9.4 сопоставляются два набора координат. Как и следовало ожидать, дифракция нейтронов менее точно определяет положение атома азота, чем дифракция рентгеновских лучей, но зато положение атома водорода найдено при использовании дифракции нейтронов с гораздо большей точностью. [27]
Электронографические исследования, как и дифракция нейтронов, позволяют получить некоторые сведения о положениях атомов водорода в кристаллах, но экспериментальная методика гораздо проще и не требует использования атомного реактора. С другой стороны, приходится работать с образцами толщиной в 10 - 5 - 10-в см. Средняя точность локализации атомов водорода при использовании дифракции рентгеновских лучей ( в благоприятных случаях) составляет 0 1 А, при использовании дифракции электронов - 0 02 - 0 03 А, а при работе с нейтронами - 0 01 - 0 02 А. [28]
На основании дифракционных явлений были созданы приборы, позволяющие измерить с большой точностью длины волн рентгеновского излучения. Использование дифракции на кристаллах для управления рентгеновскими лучами лежит в основе рентгеновской оптики, получившей особенно большое развитие в последние годы. [29]
Поскольку рассеяние тепловых нейтронов вообще не зависит явно от атомного номера исследуемого вещества, то с помощью дифракции нейтронов легко выявляется различие атомов с близкими. Z ( например, при исследовании упорядочения атомов Fe и Со в системе Fe - Co), что трудно сделать рентгенографически и электронографически. При использовании дифракции нейтронов возможно изучение изотопических ( часто рассеивающие способности изотопов одного и того же элемента значительно различаются) и спиновых различий атомов, входящих в решетку, причем такие различия не замечают ни рентгеновские лучи, ни электроны. В то же время при дифракции нейтронов могут оказаться неразличимыми ( имеющими приблизительно равную амплитуду рассеяния) совершенно разные атомы. Такие структуры нельзя исследовать с помощью рентгеновских лучей и затруднительно с помощью электронов из-за незначительного рассеяния их легкими элементами. [30]
Страницы: 1 2 3