Использование - рентгеновское излучение
Cтраница 3
При использовании рентгеновского излучения возникает возможность больших увеличений ( до 106) с сохранением разрешающей способности. Принцип действия микроскопов, хорошо описанный в книге Строука, основан на масштабных переходах и геометрическом увеличении в расходящихся пучках. Трудности осуществления микроскопии высокого разрешения связаны с отсутствием рентгеновских лазеров. Для микроскопии живой клетки нужно улучшить когерентность и мощность существующих ультрафиолетовых лазеров. [31]
Таким образом, взаимодействие вещества с излучением рентгеновского диапазона всегда сопровождается ионизацией атомов. Поэтому при использовании рентгеновского излучения возможна регистрация как электромагнитных, так и электронных спектров. К рентгеновским методам спектроскопии электромагнитного излучения относят рентгеноэмиссион-ный анализ ( РЭА), рентгенофлуоресцентный ( РФА) и рентгеноабсорбци-онный ( РАА) анализ, а к методам электронной спетроскопии - рентгеновская фотоэлектронная ( РФЭС) и оже-электронная ( ОЭС) спектроскопия. [32]
Метод используют для изучения состава фаз в различных системах, например Сг-Fe - S [721], распределения примесей в нержавеющей стали [103] и карбида хрома в сталях подшипников [ 41, с. Рентгенофлуоресцентный локальный микроанализ с использованием рентгеновского излучения от рентгеновской трубки [163, 713], а также первичного рентгеновского излучения, возбужденного в тонкой мишени электронным пучком [163, 303, 677, 703, 1045], применяют к образцам в любом агрегатном состоянии. Метод позволяет определять химический состав без разрушения и расходования образцов в микро - и нанограммовых количествах или в прицельно выбираемых зонах исследуемого объекта с локальностью от 0 1 до 1 мм. [33]
Применение фотоэлектронной спектроскопии осложняется также потерей кинетической энергии выбиваемого электрона при его взаимодействии с матрицей. Поэтому только поверхностные слои матрицы доступны исследованию этим методом, причем, вероятно, более перспективно использование рентгеновского излучения, так как электроны высоких энергий поглощаются в меньшей степени. [34]
 |
Данные исследования системы тиофенол - вода при действии у-излучения. [35] |
При действии - у-излучения на систему тиофенол - бензол получены аналогичные результаты. Количество превращенного тиофенола растет также с увеличением количества поглощенной энергии, однако степень превращения в данном случае значительно меньше, чем при использовании рентгеновского излучения. Причиной этого следует считать различные условия облучения. Облучение у-лучами проводилось в запаянных ампулах, содержащих лишь определенное количество воздуха, тогда как в случае рентгеновского излучения были использованы ячейки, в которых исследуемая система сообщалась с воздухом. [36]
 |
Данные исследования системы тиофенол - вода при действии у-излучения. [37] |
При действии уизлучения на систему тиофенол - бензол получены аналогичные результаты. Количество превращенного тиофенола растет также с увеличением количества поглощенной энергии, однако степень превращения в данном случае значительно меньше, чем при использовании рентгеновского излучения. Причиной этого следует считать различные условия облучения. Облучение улучами проводилось в запаянных ампулах, содержащих лишь определенное количество воздуха, тогда как в случае рентгеновского излучения были использованы ячейки, в которых исследуемая система сообщалась с воздухом. [38]
Атомную структуру аморфных сплавов можно экспериментально определить, используя дифракционные методы исследования. Рассеяние рентгеновских лучей, нейтронов и электронов на аморфном веществе позволяет установить общий структурный фактор многокомпонентной системы, который соответствует сумме парциальных структурных факторов. На основании парциальных функций атомного распределения определяют характер соседств различных атомов в сплаве. Для этого проводят съемку с использованием рентгеновского излучения различных длин волн или комбинированные исследования ( нейтронов, рентгеновских лучей и электронов. В последнее время для этих же целей используют метод, основанный на исследовании тонкой структуры спектров рентгеновского поглощения. Преимущество этого метода - возможность независимо находить функцию для каждого данного сорта атомов в системе, содержащей несколько компонентов. Обычная же рентгеновская дифракция, как отмечено выше, содержит усреднение по всем возможным парам атомов. [39]
На мембранах из нитрида кремния, окиси алюминия и полиимида методом электронно-лучевой литографии можно формировать рисунки с очень высокой разрешающей способностью ( 0 1 мкм), поскольку обратное рассеяние электронов на тонких подложках из материалов с малой атомной массой весьма мало. В качестве поглощающего слоя обычно используется пленка золота. Толщина ее должна быть подобрана так, чтобы обеспечивалась приемлемая контрастность шаблона при выбранных резисте и длине волны. Зависимость толщины слоя золота от длины волны излучения влияет на разрешающую способность шаблона. Использование рентгеновского излучения с большей длиной волны и высококонтрастных резистов позволяет уменьшить толщину поглощаемого слоя золота. [40]
Страницы: 1 2 3