Cтраница 1
Использование рентгеновских методов дает возможность наблюдать внутреннюю структуру исследуемых объектов. [1]
В работах [17, 18] сообщается об использовании рентгеновских методов контроля для обнаружения дефектов в герметизированных интегральных схемах. Группа схем, подлежащих контролю, поступает на загрузочное устройство. Контролируемая схема просвечивается рентгеновскими лучами. В качестве источника рентгеновского излучения используется обычная рентгеновская трубка с пиковым напряжением на аноде 150 кв и диаметром фокусного пятна 0 3 мм. Лучи, прошедшие через схему, попадают на мишень видикона. Предусматривается возможность повышения контрастности изображения, а также инвертирования полярности видеосигнала, если необходимо получать темное изображение на белом фоне. [2]
Если требуется получить точные аналитические результаты при использовании рентгеновского метода для непосредственного анализа минералов, то необходимо устранить изменения интенсивности, связанные с вариациями в размерах частиц и в приготовлении образцов. Детальное обсуждение этого вопроса здесь неуместно, так как отдельные случаи различаются так сильно, что только экспериментальным путем можно найти наиболее удобный метод для работы с данным образцом в каждом конкретном случае. [3]
Работа, аналогичная описанной выше, проводилась со сферическим пузырем с использованием рентгеновского метода. [4]
В большинстве случаев, особенно при исследовании систем в конденсированном состоянии, приходится иметь дело с неограненными кристаллами ( кристаллическими обломками), что осложняет работу и требует использования рентгеновских методов юстировки. [5]
До того как с помощью рентгеновского метода [1, 31] было установлено, что причиной непрозрачности опаловых стекол и эмалей является присутствие в них фторидов, думали, что важную роль в процессе получения опаловых стекол играет образование мелких пузырьков SiFa. Использование рентгеновского метода, а позднее электронного микроскопа не оставило сомнений, что именно NaF и CaF2 обусловливают помутнение фторидных стекол. [6]
Начальную величину ( К1С) 0 выбирают произвольно, в зависимости от способа определения и последующих методов ее воспроизведения. Так, например, при использовании рентгеновского метода оценки вязкости разрушения по размеру зоны пластической деформации под поверхностью излома начальную величину ( / чс) о рассматривают для толщины листа, при которой реализуется плоское напряженное состояние материала. [7]
На примере этого исследования видно, что принципиально новые результаты были получены благодаря возможности проводить определения фазового состояния за очень короткие промежутки времени сразу после приготовления коллоидных растворов. Проводившиеся ранее многочисленные исследования коллоидных систем с использованием рентгеновского метода не приводили к обнаружению аморфного состояния первичных коллоидных частиц; установление их фазового состояния выполнено электронографически. [8]
В 1929 г. Г. Н. Аксенов впервые теоретически установил возможность использования рентгеновского метода для измерения остаточных напряжений. [9]
Когда вторая фаза содержится в таком малом количестве, что ее частицы имеют размеры того же порядка, что и частицы структуры распада, метод микроанализа, конечно, не применим. Обнаруживая распад микроскопическим методом, мы получаем, кроме того, ясное указание, что при использовании рентгеновского метода для исследования закаленных образцов могут быть получены ошибочные результаты. [10]
Когда вторая фаза содержится в таком малом количестве, что ее частицы имеют размеры того же порядка, что и частицы структуры распада, метод микроанализа, конечно, не применим. Обнаруживая распад микроскопическим методом, мы получаем, кроме того, ясное указание, что при использовании рентгеновского метода для исследования закаленных образцов могут быть получены ошибочные результаты. [11]