Использование - микроскоп
Cтраница 2
 |
Некоторые данные о двойном лучепреломлении волокон. [16] |
Микроскопические наблюдения Фарр и ее сотрудников, проведенные с использованием довольно сильного микроскопа, привели к иным выводам в отношении природы растворов, однако более поздние исследования Гар-риса и его сотрудников [108], Хейзера и Грина [109] не подтвердили заключения Фарр. В настоящее время данные микроскопического изучения растворов соответствуют концепции о присутствии в них длинноцепных молекул, как это вытекает из данных физических и физико-химических исследований. [17]
 |
Элементарная мембрана оказывается в разрезе трехслойной. светлая линия внутри и две темные плотные линии по обе стороны от нее. [18] |
Вследствие этого пограничные мембраны интенсивно изучают на ультратонких срезах с использованием особенно мощных микроскопов. Было совсем нетрудно обнаружить, что все они построены по единому плану, и при этом вовсе не являются гомогенными. Они всегда оказываются слоистыми, причем слои располагаются одинаково: всегда бывает видна внутренняя, более светлая линия, а по обе стороны от нее лежат две тонкие темные линии. [19]
На рис. 90 сравниваются размеры сферолитов, полученные описываемым методом и при использовании микроскопа. Анизотропия сферолитов возникает вследствие ориентации кристаллов внутри сферолита; например, в сферолитах полиэтилена оси b кристаллов преимущественно совпадают с радиальным, а оси а и с - с тангенциальными направлениями. Так как показатель преломления вдоль оси с кристалла является максимальным, то средний показатель преломления в тангенциальном направлении больше, чем в радиальном. Результирующее двойное лучепреломление сферолита зависит от точности такой ориентации кристаллов, от степени кристалличности и от ориентации в аморфных областях полимера. Эти факторы в свою очередь определяются стереорегулярностью и условиями кристаллизации образца. Для некоторых полимеров, таких, как, например, полипропилен и найлон, величина и даже знак двойного лучепреломления закономерно изменяются в зависимости от температуры кристаллизации. В работе [ 401 рассмотрено влияние подобных изменений анизотропии сферолитов на рассеяние ими света. [20]
 |
Инфракрасные спектры пропускания пс рола, полученного различными препаративными мет - а ами. [21] |
Проблема низкой прозрачности ( около 1 %) была в значительной степени решена путем использования отражающего микроскопа с большой численной апертурой, который собирал значительную часть рассеянной прошедшей энергии. Эти авторы получили спектр вулканизата, содержавшего натуральный каучук, синтетический каучук SBR и сажу, в котором основные полосы поглощения, обусловленные натуральным каучуком, бутадиеновыми и стирольными звеньями, были отчетливо разрешены. [22]
Визуальное наблюдение позволяет определять и измерять макропоры размером 2гэфф 100 мкм, а с использованием микроскопа 0 7 - 1 2 мкм. Методом ртутной порометрии определяются поры с 2гэфф 2 5 - 5 0 нм; по рассеянию рентгеновских лучей под малыми углами можно находить 2гэфф 1 0 - 70 0 нм Использование электронной микроскопии расширяет границы измерений размера пор от 1 0 - 2 0 нм до 10 - 100 мкм. [23]
Для выяснения характера разрушения покрытий различной толщины в этих условиях непосредственно в зоне подошвы нароста были проведены исследования с использованием электронно-сканирующего микроскопа. [24]
Кроме основного оценочного показателя - длительности работоспособности - учитывается состояние смазочного масла и тел качения после испытания, оцениваемое визуально с использованием микроскопа. [25]
Для облегчения подсчета частиц при бактериологическом искусственном загрязнении жидкость, прошедшую через фильтрующую перегородку и загрязненную микробами известного размера, следует выдержать определенное время, в течение которого микробы превратятся в культуру, достаточную для подсчета без использования микроскопа. [26]
В отношении микроскопов следует отметить, что обследование насекомых под микроскопом является наиболее обычным и практическим путем для выявления морфологических различий между видами и в течение многих лет останется основой всей таксономической работы. Использование микроскопа фактически лишь расширяет зрительные восприятия ученого, а это и есть самый важный таксономический инструмент систематика. Даже если новая систематика пользуется не только анатомическими различиями в качестве основы для разделения видов, некоторые из этих подходов, например цитология, все же требуют хорошего микроскопического оборудования и соответствующей методики. К сожалению, многие ( возможно, даже большинство систематиков) еще плохо владеют техникой микроскопии. Однако в продаже имеется микроскопическое оборудование, способное значительно расширить возможности систематиков. Многие скрытые особенности становятся ясными и очевидными при пользовании таким инструментом, как фазовый микроскоп или Ультрапак. Поэтому авторы считают, что усовершенствованная микроскопическая методика и использование доступных в настоящее время микроскопов являются неотъемлемой частью новой систематики и открывают совершенно новые горизонты для систематика, который все еще вынужден в основном полагаться на морфологическое изучение своего материала. [27]
Установка ИМАШ-20-75 представляет собой усовершенствованный вариант установки ИМАШ-20-69 и предназначена для исследования микроструктуры различных материалов в диапазоне температур от - 120 до 1200 - 1500 С при различных видах нагружения в вакууме и защитных газовых средах. В установке предполагается использование микроскопа МВТ-71 производства Ленинградского оптико-механического объединения. [28]
 |
Зависимость трансверсальной деформации. г от осевой деформации ех дл двух типов графито-эпоксидного слоистого композита ТЗОО / 5208 [ ( 302 / 9025 ( 1 4 1 ( 2. [29] |
Особое внимание уделено тому обстоятельству, чт бы центральная поперечная ось тензодатчика на свободной кром была расположена точно в срединной плоскости образца. ПОЭТОА установка тензодатчика проводилась с использованием микроскопа На рис. 3.25 показан тензодатчик длиной 0 2 мм, установленный на свободной кромке образца слоистого композита ( ЗО О так, что. Датчик деформации в направлении yf установленный на лицевой поверхности образца вблизи свободной кромки, предназначен для измерения поперечной деформации е Л целью последующего сопоставления экспериментальной и расчетной величин. Поскольку анализ показал, что еу вблизи свободной кром ки - функция, сильно зависящая от у и г, измеренные значения еу для расчета аг не использовались. [30]
Страницы: 1 2 3 4