Действие - дифракционная решетка
Cтраница 1
 |
Дифракция на прозрачной решетке. [1] |
Действие дифракционной решетки легко понять, рассмотрев интерференцию отдельных плоских волн, испытавших дифракцию на щелях решетки. [2]
Действие дифракционной решетки будем рассматривать как результат интерференции когерентных пучков света, дифрагировавших на отдельных щелях решетки. [3]
 |
Дифракции на прозрачной решетке. ВаНИЙ, ИСПОЛЬЗубТСЯ ДИфраКЦИЯ. [4] |
Действие дифракционной решетки легко понять, рассмотрев интерференцию отдельных плоских волн, испытавших дифракцию на щелях решетки. [5]
Действие дифракционной решетки будем рассматривать как результат интерференции когерентных пучков света, дифрагировавших на отдельных щелях решетки. [6]
 |
Дифракционная картина от щели. [7] |
Действие дифракционной решетки, так же как и интерференционных спектроскопов, сводится к получению интерференции многих колебаний. Поэтому, так же как и там, увеличение числа складываемых колебаний ( в данном случае - числа щелей) приводит к увеличению резкости интерференционной картины. Главные максимумы становятся все уже и выше. Разница состоит лишь в том, что теперь излучение каждого источника не равномерно по всем направлениям, а обладает дифракционным распределением, которое было пояснено в предыдущем параграфе. [8]
 |
Разложение белого света дифракционной решеткой. [9] |
Рассмотрение действия дифракционной решетки показывает, что при большом числе щелей свет, прошедший через решетку, собирается в отдельных, резко очерченных участках экрана. Положение максимумов на этих участках, определяемое формулой dsmq тК, зависит от длины волны Я. Другими словами, дифракционная решетка представляет собой спектральный прибор. [10]
Рассмотрение действия дифракционной решетки показывает, что при большом числе щелей свет, прошедший через решетку, собирается в отдельных, резко очерченных участках экрана. Положение максимумов на этих участках, определяемое формулой dsimp mA, зависит от длины волны А. Другими словами, дифракционная решетка представляет собой спектральный прибор. [11]
 |
Распределение интенсивности в дифракционной картине, получаемой в фокальной плоскости линзы, установленной за системой из jV щелей, освещаемых параллельным пучком света. [12] |
Явление дифракции на многих щелях лежит в основе действия дифракционных решеток. [13]
Из рассмотренных нами ранее приборов на принципе многолучевой интерференции основано действие дифракционной решетки ( см. гл. Однако между действием дифракционной решетки и приборов высокой разрешающей силы имеются и существенные различия, что оправдывает выделение этих приборов в отдельную главу. [14]
Из рассмотренных нами ранее приборов на принципе многолучевой интерференции основано действие дифракционной решетки ( см. гл. Однако между действием дифракционной решетки и приборов высокой разрешающей силы имеются и существенные различия, что оправдывает выделение этих приборов в отдельную главу. [15]
Страницы: 1 2