Округлый дефект

Cтраница 1

К измерению фактического расстояния между двумя компактными дефектами., и D2. [1]

Округлые дефекты не очень ослабляют прочностные свойства изделия и часто допустимы, а плоскостные дефекты гораздо сильнее влияют на прочность, способны развиваться при эксплуатации и, как правило, недопустимы. [2]

Для округлых дефектов, имитируемых боковыми цилиндрическими отражателями ( рис. 3.15, б), измерение условных размеров не дает новой информации по сравнению с измерением амплитуды эхо-сигналов. [3]

К закономерностям ослабления эхосигнала с расстоянием. [4]

Пример демонстрирует плохую выявляе-мость округлых дефектов по сравнению с плоскими, перпендикулярными к оси преобразователя. [5]

Оценка размеров дефектов по измерению временя прихода эхосигналов. [6]

Применение второго способа во всех вариантах измерения к округлым дефектам неэффективно, так как при этом измеряется лишь диаграмма направленности преобразователя. Сравнив два способа оценки размеров применительно к плоским дефектам, перпендикулярным направлению акустической оси, отметим, что первый из них целесообразно применять к точечным дефектам, а второй - к протяженным. Однако реальный протяженный дефект может иметь разную отражательную способность в разных точках своей поверхности. [7]

Оценка компактности или протяженности дефекта при измерении относительными способами по уровням 6 и 20 дБ ( а или по уровню фиксации ( б. [8]

При измерении первым способом условная протяженность плоских дефектов ( кривая 2), как правило, значительно больше истинных размеров ( кривая I, а условная протяженность округлых дефектов ( кривая 3) очень медленно увеличивается с увеличением диаметра отражателя. [9]

Схема опреде-г ления условных размеров дефектов.| Зависимость условной протяженности &. L дефектов от их истинного размера ( г - const. [10]

При измерении вторым способом условная протяженность плоских дефектов ( кривая 2), как правило, значительно больше истинных размеров ( кривая 1), а условная протяженность округлых дефектов ( кривая 3) очень медленно увеличивается с увеличением диаметра отражателя. [11]

Оценка компактности или протяженности дефекта при измерении относительными способами по уровням 6 и 20 дБ ( а или по уровню фиксации ( в. [12]

При измерении первым способом условная протяженность плоских дефектов ( кривая 2), как правило, значительно больше истинных размеров ( кривая /), а условная протяженность округлых дефектов ( кривая 3) очень медленно увеличивается с увеличением диаметра отражателя. [13]

Для их обнаружения меняют направление намагничивания. Округлые дефекты также образуют слабые поля рассеивания за счет дифракции. Для их выявления используют наиболее эффективные способы намагничивания. [14]

Дифракционно-временной способ измерения размеров дефектов. [15]

Страницы: 1 2