Cтраница 1
Обнаруживаемые дефекты и особенности трубопровода: вмятины, овальности, гофры, поперечные сварные швы, клапаны, измерение радиуса изгиба трубы. [1]
Обнаруживаемые дефекты, выходящие за пределы требований дефектоскопического контроля, могут быть существенно меньше. Такой подход для области малых трещин может приводить к результатам не в запас прочности. [2]
Обнаруживаемые дефекты и особенности трубопровода: вмятины, овальности, гофры, поперечные сварные швы, клапаны, измерение радиуса изгиба трубы. [3]
Обнаруживаемые дефекты: вмятины, овальности, гофры, сварные швы, задвижки. Геометрические отклонения в трубопроводе определяются в условиях его нормального функционирования. Программное обеспечение и методы интерпретации результатов измерений позволяют получать экспресс-отчет непосредственно с места проверки спустя 2 часа после выдачи данных профилемером. [4]
Обнаруживаемые дефекты и особенности трубопровода: вмятины, овальности, гофры, поперечные сварные швы, клапаны, измерение радиуса изгиба трубы. [5]
Минимально обнаруживаемый дефект достигает порядка 0 1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в 4 раза по сравнению со стеклянным зеркалом. Возможно контролирование поверхности материала, двигающегося со скоростью свыше 15 м / с. Сканирующие лазерные системы бегущего луча могут также использоваться для получения изображения объектов контроля. Схема лазерного сканирующего инфракрасного микроскопа для контроля внутренних дефектов полупроводниковых материалов с механическим сканированием объекта контроля и неподвижным лучом лазера отличается низким быстродействием, но имеет высокую разрешающую способность. [6]
Минимально обнаруживаемый дефект достигает порядка 0 1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в 4 раза по сравнению со стеклянным зеркалом. Возможно контролирование поверхности материала, двигающегося со скоростью свыше 15 м / с. Сканирующие лазерные системы бегущего луча могут также использоваться для получения изображения объектов контроля. Схема лазерного сканирующего инфракрасного микроскопа для контроля внутренних дефектов полупроводниковых материалов с механическим сканированием объекта контроля и неподвижным лучом лазера отличается низким быстродействием, но имеет высокую разрешающую способность. Схема с системой сканирующих зеркал отличается большим быстродействием ( до 50 кад / с при 200 - 400 строках разложения телевизионного изображения), однако наличие полевых аберраций оптической системы приводит в этом случае к снижению пространственного разрешения. [7]
Минимально обнаруживаемый дефект достигает порядка 0 1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в 4 раза по сравнению со стеклянным зеркалом. Возможно контролирование поверхности материала, двигающегося со скоростью свыше 15 м / с. Сканирующие лазерные системы бегущего луча могут также использоваться для получения изображения объектов контроля. Схема лазерного сканирующего инфракрасного микроскопа для контроля внутренних дефектов полупроводниковых материалов с механическим сканированием объекта контроля и неподвижным лучом лазера отличается низким быстродействием, но имеет высокую разрешающую способность. [8]
Визуально обнаруживаемых дефектов в сварных швах нет. [9]
Визуально обнаруживаемых дефектов в сварных швах нет. Форма и размеры сварных швов соответствуют действующей ормативной документации. [10]
Визуально обнаруживаемых дефектов в сварных швах нет. [11]
Расстояние до обнаруживаемого дефекта определяется по глу-биномерному устройству. [12]
Рыхлость - наиболее просто обнаруживаемый дефект компоновки, связанный так или иначе с надежностью. Но существуют вызывающие ненадежность факторы, источники которых хотя и связаны с расположением частей, однако таятся глубоко и нелегко обнаруживаются. [13]
Реже встречается неприятнвш и трудно обнаруживаемый дефект, называемый провесом очка, - непараллельность очка основанию литеры. [14]
В заготовках из титановых сплавов трудно обнаруживаемый дефект - обогащенные азотом включения - нитриды. Это твердые вещества, которые не расплющиваются при обработке давлением. Около них могут возникать трещины, поэтому они существенно ослабляют прочность диска. [15]