Cтраница 1
Протяженные дефекты следует оценивать при максимальной амплитуде отраженных сигналов, составляющей 0 5 и более амплитуды сигнала от искусственного отражателя площадью S ( см. табл. 16.7) на соответствующей глубине. [1]
Протяженные дефекты считаются недопустимыми, если амплитуда сигналов от них превышает 0 5 амплитуды эхо-сигналов от искусственного отражателя. Условная протяженность цепочки точечных дефектов измеряется в том случае, если амплитуда эхо-сигнала от них составляет 0 5 и более амплитуды эхо-сигнала от искусственного отражателя, размеры которого определяются максимально допустимой эквивалентной площадью. [2]
Протяженный дефект ( например, расслоение) рассматривается как появление в системе дополнительного промежуточного слоя с отличными от основной среды свойствами. В этом случае задача обнаружения дефекта решается путем нахождения модуля и фазы коэффициента отражения или прохождения для системы с ( п 1) слоем. Ясно, что если электрофизические параметры дефекта мало отличаются от свойств среды и размер в направлении распространения волны также мал, то такой дефект практически будет чисто фазовым и определяющую роль в его обнаружении будет играть измерение изменения фазы. [3]
Протяженный дефект ( например, расслоение) рассматривается как появление в системе дополнительного промежуточного слоя с отличными от основной среды свойствами. [4]
Протяженный дефект ( например, расслоение) рассматривается как появление в системе дополнительного промежуточного слоя с отличными от основной среды свойствами. В этом случае задача обнаружения дефекта решается путем нахождения модуля и фазы коэффициента отражения или прохождения для системы с ( п 1) слоем. Ясно, что если электрофизические параметры дефекта мало отличаются от свойств среды и размер в направлении распространения волны также мал, то такой дефект практически будет чисто фазовым и определяющую роль в его обнаружении будет играть измерение изменения фазы. [5]
Протяженный дефект, выявленный при УЗК, оценивается по двум параметрам: эквивалентная площадь и условная протяженность. Используя предыдущий подход для компактного дефекта, представим протяженный дефект в изделии, как отражатель в виде полосы шириной в и длиной, превышающей ширину ультразвукового пучка. [6]
Протяженные дефекты кристаллов выполняют две функции при формировании фотографического изображения. Во-первых, они создают заряженные центры, которые действуют как ловушки электронов и дырок. Во-вторых, они образуют узлы, из которых легко генерируются внедренные ионы серебра. [7]
Рассмотрим протяженные дефекты 1Н D. [8]
![]() |
Домены в магнитных материалах ( но Киттелю. [9] |
Охарактеризуйте протяженные дефекты: а) дислокации краевые и винто - ЕЫС; б) трещины; в) мозаику; г) микрокаверны. [10]
Для протяженных дефектов признак Д не дает дополнительной информации, поэтому его рекомендуется применять в сочетании с признаком Дль, по которому дефекты хорошо разделяются на протяженные, и компактные. [11]
В паракристаллах протяженные дефекты приводят к топологическому упорядочению, т.е. к пространственному порядку в расположении атомов. [12]
Условную высоту протяженных дефектов измеряют в месте, где сигнал, отраженный от дефекта, имеет максимальную амплитуду. [13]
Дислокации, являясь протяженными дефектами, охватывают своим упругим полем искаженной решетки очень большое число узлов. [14]
Дислокации, являясь протяженными дефектами кристалла, охватывают своим упругим полем искаженной решетки гораздо большее число узлов, чем атомные дефекты. Ширина ядра дислокации составляет всего несколько периодов решетки, а длина его достигает многих тысяч периодов. [15]