Теневой дефектоскоп - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
"Подарки на 23-е февраля, это инвестиции в подарки на 8-е марта" Законы Мерфи (еще...)

Теневой дефектоскоп

Cтраница 3


Аппаратура для контроля амплитудным теневым методом проще по устройству, чем эходефектоскоп, однако она может существенно усложняться в связи с использованием большого числа параллельно работающих каналов. На рис. 2.90 показана структурная схема одного канала импульсного теневого дефектоскопа. Контролируемое изделие 4, синхронизатор 1, генератор импульсов 2, излучатель 3, приемник 5, усилитель 8, временной селектор 7 и регистратор с амплитудным дискриминантом 6 выполняют те же функции, что и в эходефектоскопе. В качестве теневого дефектоскопа может быть использован любой эходефектоскоп, включенный по раздельной схеме.  [31]

Теневые дефектоскопы обычно работают не в импульсном режиме, а в режиме непрерывного действия что значительно упрощает их схему и устройство. Особенно широко они применяются для контроля расслоения в тонких листовых материалах, для контроля проволоки, для проверки качества склеивания или нанесения различных покрытий на листовые материалы. На рис. 44 показаны различные примеры применения теневого дефектоскопа.  [32]

33 Способы контроля ЗТ-методом.| Обнаружение вертикальных дефектов ЗТ-метода. [33]

АСД помещают в месте прихода первого или второго донного сигнала. Контроль по вариантам, показанным на рис. 2 93, а, б, ведут по совмещенной схеме, по вариантам на рис. 2.93, в, г - по раздельной. Прибор специально для контроля этим методом имеет упрощенную схему, как и теневой дефектоскоп. Экран и ряд других узлов дефектоскопа часто отсутствуют. Обязательно наличие строб-импульса для выделения соответствующего донного сигнала и аттенюатора, позволяющего настраивать АСД на регистрацию заданного ослабления донного сигнала.  [34]

Аппаратура для контроля амплитудным теневым методом проще по устройству, чем эходефектоскоп, однако она может существенно усложняться в связи с использованием большого числа параллельно работающих каналов. На рис. 2.90 показана структурная схема одного канала импульсного теневого дефектоскопа. Контролируемое изделие 4, синхронизатор 1, генератор импульсов 2, излучатель 3, приемник 5, усилитель 8, временной селектор 7 и регистратор с амплитудным дискриминантом 6 выполняют те же функции, что и в эходефектоскопе. В качестве теневого дефектоскопа может быть использован любой эходефектоскоп, включенный по раздельной схеме.  [35]

Промышленные УЗ теневые дефектоскопы представляют собой высокопроизводительные механизированные установки, обычно оборудованные системой сигнализации или записи результатов контроля. Для повышения производительности часто используют несколько пар головок. При контроле продольными волнами в обычном варианте метода головки одной пары располагаются по разные стороны изделия, при работе нормальными волнами возможно также расположение головок по одну сторону изделия. Перемещение головок относительно контролируемого изделия в большинстве теневых дефектоскопов механизировано.  [36]

Аппаратурой для контроля зеркально-теневым методом может служить импульсный эхо-дефектоскоп. Строб-импульс АСД помещают в том месте линии развертки, куда приходит первый или второй донные сигналы. Контроль по вариантам а и б ( см. рис. 2.14) ведут по совмещенной схеме, по вариантам вне - по раздельной. Для контроля рельсов используют прибор с упрощенной схемой, аналогичный теневому дефектоскопу. Электроннолучевая трубка и ряд других узлов отсутствуют. Предусмотрены выделение соответствующего донного сигнала с помощью строб-импульса, а также наличие аттенюатора, позволяющего настраивать АСД на регистрацию заданного ослабления донного сигнала.  [37]

Аппаратурой для контроля различными вариантами зеркально-теневого метода служит импульсный эходефектоскоп. Строб-импульс АСД помещают в месте прихода первого или второго донного сигнала. Контроль по вариантам рис. 2.36, а, б ведут по совмещенной схеме, по вариантам рис. 2.36, в, г - по раздельной. Прибор специально для контроля этим методом имеет упрощенную схему, как и теневой дефектоскоп ЭЛТ и ряд других узлов отсутствуют. Обязательно наличие строб-импульса для выделения соответствующего донного сигнала и аттенюатора, позволяющего настраивать АСД на регистрацию заданного ослабления донного сигнала.  [38]

В импульсных ультразвуковых дефектоскопах ( типа УЗД-7Н) ультразвуковая волна, распространяющаяся в исследуемом материале, при встрече с препятствием в виде дефекта отражается от него. Отраженные волны принимаются, усиливаются и передаются на показывающий индикатор. Импульсные дефектоскопы могут работать с одним или с двумя щупами, прикладываемыми к изделию только с одной стороны. Это является одним из важных преимуществ импульсных дефектоскопов, позволяющих производить контроль изделия при доступе к нему только с одной стороны в отличие от теневых дефектоскопов.  [39]

40 Блок-схема импульсного ультразвукового. [40]

Ультразвуковая волна, распространяющаяся в исследуемом материале, при встрече с препятствием в виде границы раздела двух сред ( например, воздушная полость дефекта в стали), будет отражаться от этой границы. Отраженные волны могут быть приняты, усилены и поданы на индикатор. Импульсные дефектоскопы могут работать с одним или двумя щупами, прикладываемыми к изделию только с одной стороны. Это является одним из важнейших преимуществ импульсных дефектоскопов, позволяющим производить контроль изделия при доступе к нему только с одной стороны в отличие от теневых дефектоскопов.  [41]

42 Схема работы ультразвуковой теневой. [42]

Принцип действия импульсных ультразвуковых дефектоскопов во многом подобен работе радиолокационных станций. Ультразвуковая волна, распространяющаяся в исследуемом материале, при встрече с препятствием в виде границы раздела двух сред ( например, воздушная полость дефекта в стали), будет отражаться от этой границы. Отраженные волны могут быть приняты, усилены и поданы на индикатор. Импульсные дефектоскопы могут работать с одним или двумя щупами, прикладываемыми к изделию только с одной стороны. Это является одним из важнейших преимуществ импульсных дефектоскопов, по сравнению с теневыми дефектоскопами, позволяющих производить контроль изделия при доступе к нему только с одной стороны.  [43]



Страницы:      1    2    3