Cтраница 1
Дефектоскопия материала: ультразвуковые волны отражаются от внутренних трещин и дефектов. [1]
![]() |
Схема люминесцентного метода дефектоскопии. [2] |
В дефектоскопии материалов используются главным образом явления фотолюминесценции и кристаллолюминесценции. [3]
При дефектоскопии материалов со сквозной пористостью ( бетон, горные породы, керамика, огнеупоры) применяют суспензии люминофоров, например 2 2 -дигидрокси - 1 1 -нафтальазина, в воде с добавками эмульгаторов ОП-7 или ОП-10. Люминесцирующие частицы оседают по краям дефектов. [4]
Гамма-установки для дефектоскопии материалов представляют собой простейшие устройства. Основное требование, которое к ним предъявляется, - хорошая защита от вредного действия гамма-лучей на операторов и окружающих. [5]
Во многих случаях дефектоскопия материалов ведется с использованием наклонно падающих волн. [6]
![]() |
Устройство ультразвукового толщиномера с прямым отсчетом толщины ( предложена В. С. Соколовым и Е. Г. Кардашом. [7] |
Метод измерения толщины или дефектоскопии материалов при помощи резонансных ультразвуковых приборов требует хорошего акустического контакта пьезоэлектрической пластинки с поверхностью измеряемого материала: при этом чем большую точность в измерении необходимо получить, тем лучше должен быть этот контакт. Хороший же акустический контакт можно получить при хорошо обработанной поверхности измеряемого материала. Необходимость в соблюдении этого условия является одним из серьезных недостатков резонансных ультразвуковых дефектоскопов, что в значительной мере ограничивает их область применения. [8]
![]() |
Размеры выпускаемых рентгеновских пленок. [9] |
В практической работе по дефектоскопии материалов имеет большое значение фотографическая широта рентгеновских пленок. [10]
По результатам диагностирования и дефектоскопии материала элементов машины неразрушающими методами контроля проводится оценка их технического состояния, выполняются расчеты на прочность. [11]
В основе люминесцентного метода дефектоскопии материалов лежит возможность видеть свет от люминесцирующих веществ, находящихся в полости дефектов. Чувствительность этого метода очень велика. Во многих случаях люминесцентный метод является единственно возможным для дефектоскопии немагнитных материалов. [12]
В основе люминесцентного метода дефектоскопии материалов лежит возможность наблюдения люминесценции веществ, находящихся в полости дефектов. [13]
![]() |
Схема устройства рентгеновской трубки.| Рентгеновские трубки, а-с дисковым анодом. [14] |
В трубках, предназначенных для дефектоскопии материалов, стараются получить фокусное пятно как можно меньшего размера ( острый фокус), при котором получаются более четкие рентгеновские снимки. Но уменьшение размеров фокусного пятна возможно лишь до определенной величины. [15]