Деформация - объект
Cтраница 3
На правой половине плиты ( рис. 74) собрана схема для получения плоской голограммы и исследования деформации объекта методом двухэкспозиционной голографи-ческой интерферометрии. Сформированный объективом и диафрагмой широкий однородный пучок света падает на зеркало 7 и пластину 11, являющуюся объектом. В рассеянном голограммой свете наблюдается изображение пластины 11, перерезанное темными интерференционными полосами. [31]
Смедслундом [177], в которых учащиеся сталкивались с конфликтной ситуацией, возникающей при разных преобразованиях ( например, деформации объекта и прибавлении - убавлении материала) без обратной связи, были получены более успешные результаты в усвоении принципа сохранения. [32]
Аналогия с формулой (6.54), соответствующей случаю только жесткого смещения, свидетельствует о нечувствительности такой схемы фильтрации к деформации объекта. [33]
В случае появления источника воспламенения парогазовоздушные облака взрываются с образованием ударных волн большой разрушительной силы, вызывающих дробление и деформации объектов. [34]
Погрешности, связанные с состоянием контролируемого изделия и его фиксацией - это прежде всего погрешности из-за неконтролируемых смещений и деформаций объекта контроля или его элементов в процессе сканирования. Источниками погрешностей могут служить и слишком плотные структурные элементы, выходящие за динамический диапазон плотностей данного вычислительного томографа. Определенное значение имеют точность установки изделия в пределах рабочего поля сканирования, вариации размеров изделия и погрешности определения пространственного положения изделия. [35]
В книге ведущих зарубежных специалистов в области голографической интерферометрии изложены принципы формирования изображения в голографии, особенности процесса образования интерференционной картины, а также измерения деформаций объекта по интерференционной картине. Рассмотрены характеристики: частота, ориентация, видимость и область локализации интерференционных полос. Значительное место занимают рекомендации во применению голографической интерферометрии. [36]
Главным фактором, влияющим на изменение характеристик распространения УЗ волн, является сопровождаемое напряжениями изменение межатомных расстояний и упругих модулей, т.е. в конечном счете - деформация объекта контроля. Пересчет между полями деформаций и напряжений требует знания вида соответствующих функциональных зависимостей, причем существенное влияние на получаемый результат оказывает степень линеаризации используемых соотношений. [37]
Описанный способ применяется для исследования деформаций предметов, их вибраций, поступательного движения и вращений, неоднородности прозрачных объектов и т.п. На рис. 11.16 приведена фотография изображения шарикового подшипника, сжатого в патроне токарного станка. Деформации объекта, Интерференционная картина на - зарегистрированные методом голо-глядно свидетельствует о разли - графической интерферометрии чии деформаций при двух значениях силы сжатия, о чем говорят два положения стрелки тензометра ( левая часть рисунка), зарегистрированные во время двух последовательных экспозиций. [38]
 |
Проводниковые тензодатчики.| Характеристика проволочного тензодатчика.| Схема включения компенсирующего тензодатчика. [39] |
Для измерения деформации тензодатчик наклеивают на исследуемую деталь 3 так, чтобы направление ожидаемой деформации впадало с длинной стороной петель проволоки. Деформация объекта вызывает деформацию проволоки, в результате чего изменяются ее геометрические размеры - длина, и диаметр. Кроме того, изменяется также ее удельное сопротивление главным образом в результате структурных изменений металла при механических напряжениях. Все это приводит к изменению активного сопротивления тензодатчика. [40]
 |
Схема механического динамометра. [41] |
Для расчета деформаций и напряжений исследуемых объектов применяют тензометры ( рис. 36), представляющие собой рычажную систему с кернами на концах ( для крепления на объекте) и шкалой. Деформация объекта исследований указывается в масштабе стрелкой на шкале, по деформации определяют напряжение. [42]
Датчик наклеивается на поверхность исследуемой детали так, чтобы размер базы / совпадал с направлением, в котором желательно замерить деформацию. При деформации объекта проволочка удлиняется ( укорачивается) и ее омическое сопротивление изменяется. [43]
Датчик наклеивают на поверхность исследуемой детали так, чтобы размер базы / совпадал с направлением, в котором желательно замерить деформацию. При деформации объекта проволочка удлиняется ( укорачивается) и ее омическое сопротивление изменяется. [44]
Датчик наклеивается на поверхность исследуемой детали так, чтобы размер базы / совпадал с направлением, в котором желательно замерить деформацию. При деформации объекта проволочка; удлиняется ( укорачивается) и ее омическое сопротивление изменяется. [45]
Страницы: 1 2 3 4