Использование - оптическая система - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Существует три способа сделать что-нибудь: сделать самому, нанять кого-нибудь, или запретить своим детям делать это. Законы Мерфи (еще...)

Использование - оптическая система

Cтраница 2


При использовании инфракрасных оптических систем иногда необходимо знать лучистость изображения, даваемого системой.  [16]

Применение усилителей переменного тока к записи инфракрасных спектров связано с использованием следующей оптической системы. На входную щель монохроматора попеременно подаются два потока излучения: один - - прошедший через исследуемый образец, а другой - через кювету сравнения. Это достигается с помощью - специальной осветительной системы и полукруглого зеркала модулятора, вращающегося со скоростью 5 - 10 об / сек. Два сигнала действуют на один и тот же приемник, и если энергии потоков излучения не равны ( образец поглощает), то в приемнике возбуждается переменный ток. Этот сигнал с учетом смещения фазы усиливается, выпрямляется и заставляет действовать фотометрическую диафрагму ( клин), экранирующую поток сравнения до тех пор, пока не установится равновесие. Положение диафрагмы связано с пером самописца и градуируется в процентах пропускания.  [17]

Наиболее употребительна не односекторная, а двухсекторная кювета с двумя рядом расположенными секторными полостями. В таких кюветах легче одновременное наблюдение раствора и его растворителя ( что необходимо при использовании интерференционной оптической системы) и исключается необходимость в проведении специальных экспериментов, учитывающих перераспределение компонентов или влияние гидростатического давления.  [18]

Светильники для наружного освещения разрабатываются в виде крупных унифицированных серий, предназначенных для использования ГЛВД и ламп накаливания. Каждая серия имеет несколько модификаций, отличающихся исполнением ( от IP23 до IP53) и использованием различных оптических систем и источников света.  [19]

20 К вопросу о регистрации волн в оптических системах. [20]

Применение указанного принципа не может, однако, обеспечить сохранение всех интересующих нас сведений об источнике света на одной фотографии. Рассматривая S % как источник сферической волны, падающей на Я, и вспоминая обсуждение рис. 11.1, легко заключить, что как при использовании оптической системы, так и без нее мы имеем дело с общей физической причиной неполноты знания свойств источников - утратой данных о фазах колебаний при их регистрации приемником.  [21]

В обзоре Гостинга [19] детально описаны различные методы определения величины D. Наблюдение за процессом диффузии при помощи шлирен-оптики не дает достаточно высокой точности, однако мы рассмотрим именно этот метод, поскольку он основан на использовании оптической системы ультрацентрифуги. Другие оптические системы, применяемые для очень точных исследований диффузии, обычно не входят в стандартное оснащение ультрацентрифуг. Между растворителем и раствором создается резкая граница. За ее постепенным расширением наблюдают при помощи той или иной оптической системы: рефрактометрической со шкалой Ламма [23] в старых ультрацентрифугах или шлирен-системы в современных ультрацентрифугах.  [22]

В последнее время световое давление снова привлекло внимание исследователей. Для экспериментов в этой области оказались весьма удобными некоторые свойства лазеров, а именно монохроматичность излучения и эквивалентность лазера точечному источнику света. При использовании хороших оптических систем ( см. § 6.8) можно сфокусировать лазерное излучение в пятно с радиусом того же порядка величины, что и длина волны генерации.  [23]

Наблюдения, позволяющие разрешить детали атомного размера, возможны с помощью дифракционных методов при использовании излучения, длина волны которого сравнима с величиной разрешаемого размера. Для этой цели наиболее удобным представляется дифракция электронных волн с применением магнитной или электростатической фокусировки. Принципиально возможно при использовании соответствующей оптической системы электронного микроскопа получить снимок кристаллической решетки. Расшифровка соответствующих снимков связана с двумя задачами: 1) необходимо преодолеть трудности теоретического и вычислительного характера для определения реальной структуры кристалла из экспериментальных данных, относящихся к обратному пространству; 2) необходимо учитывать несовершенство строения реального кристалла. Это важно потому, что дифракционные методы приводят к усредненному эффекту для всего облучаемого объема или, другими словами, к сглаживанию несовершенств.  [24]

25 Изменение оптического пропускания тонкой пленки a - As2Te3, обусловленное многократным переотражением в пленке фотовозбужденного акустического импульса. параметр кривых - толщина пленки. [25]

Необходимо отметить, что в перечисленных работах [74-76] визуализация акустических импульсов осуществлялась с помощью осциллографов с полосой, не превышающей 1 Ггц, что не позволяет говорить об адекватном воспроизведении формы звуковых импульсов. В целом можно, по-видимому, утверждать, что дальнейшее продвижение в область приема высокочастотных широкополосных акустических сигналов с помощью электрических схем регистрации затруднительно. Новые перспективы в этом направлении открывает использование различных оптических систем регистрации быстропротекающих процессов.  [26]

Чувствительность прибора довольна высока: он четко срабатывает от пламени спички, находящейся на расстоянии 5 - 6 м от датчика. В то же время источники с постоянным уровнем излучения ( лампы накаливания, солнечный свет, мапре-тые стенки топок) этим фотореле не фиксируются. Дальнейшее увеличение чувствительности может быть достигнуто при использовании оптической системы, концентрирующей на фотопрм-емнике большую, чем при непосредственном освещении, часть излучения пламени.  [27]

28 К вопросу о регистрации волн в оптических системах. [28]

Применение указанного принципа не может, однако, обеспечить сохранение всех интересующих нас сведений об источнике света на одной фотографии. Например, изображение S2 источника 52 ( см. рис. 11.2), находящееся вне поверхности приемника Н, вызовет почернение участка пластинки ( 7, т.е. приведет к такому же эффекту, как и отображение предмета С. Рассматривая S2 как источник сферической волны, падающей на Л, и вспоминая обсуждение рис. 11.1, легко заключить, что как при использовании оптической системы, так и без нее мы имеем дело с общей физической причиной неполноты знания свойств источников - утратой данных о фазах колебаний при их регистрации приемником.  [29]



Страницы:      1    2