Апертура - объектив
Cтраница 3
Оценивая систему по разрешающей способности, заметим, что в линзовом варианте ограничивающими факторами являются апертура объектива и его аберрации. [31]
В ряде случаев ( например, при работе в темном поле) возникает необходимость уменьшить апертуру объектива. [32]
Из назначения микроскопа - исследовать различные микропрепараты при больших увеличениях ( до 1500х) с предельно возможными апертурами объективов - вытекают основные требования, предъявляемые к конструкции штативов микроскопов и точности выполнения механизмов. [33]
 |
Трехлинзовый конденсор темного поля. [34] |
Осветитель темного поля создает в центральной части поля зрения полый конус лучей с апертурой, превышающей апертуру объектива. [35]
 |
Условие разрешения элементов периодической или квазипериодической структуры с периодом d. [36] |
Подобный анализ дает зависимость диаметра кружка размытия в изображении точки ( или дифракционной ошибки) от величины апертуры объектива. [37]
Конденсор любого типа предназначен для того, чтобы создать наиболее благоприятные условия для освещения объекта и полного использования апертуры объектива. [38]
Разрешающая сила прямо пропорциональна длине волны света I и обратно пропорциональна н у м е р и ч е-ской апертуре NA объектива. [39]
Из формулы ( I, 14) видно, что разрешающую способность микроскопа можно повысить двумя способами: увеличивая апертуру объектива и осветительной системы или уменьшая длину волны света, освещающего препарат. [40]
Главный вклад в поглощение дают электроны, которые рассеиваются на довольно большие углы, так что они либо отрезаются краями апертуры объектива, либо не фокусируются или смещаются под влиянием сферической аберрации. Это могут быть как упруго рассеянные электроны, так и электроны, неупруго рассеянные на тепловых колебаниях атомов или вследствие возбуждения атомных электронов. Для тонких образцов и не слишком больших апертур основной вклад в поглощение возникает за счет исключения упруго рассеянных электронов. [41]
Сфокусированный конденсор занимает всегда строго определенное положение, при этом создаются наиболее благоприятные условия для просвечивания объекта и для использования апертуры объектива. [42]
Повысить разрешающую силу микроскопа и наблюдать частицы меньших размеров можно двумя способами: применяя свет с мень-шей длиной волны К и увеличивая апертуру объектива. [43]
Явление останется тем же самым, если мы заменим глаз фотоаппаратом: после проявления на фотографическом изображении будут наблюдаться спеклы, которые определяются апертурой объектива. Чем больше апертура, тем тоньше структура спеклов, поскольку диаметр дифракционной картины, создаваемой объективом, убывает с увеличением его апертуры. Но чтобы получить спеклы, совершенно необязательно иметь изображение объекта. Диффузный объект, освещаемый лазером, создает спекл-структуру во всем пространстве, которое его окружает. Достаточно поместить фотопластинку на каком-нибудь расстоянии от объекта, и на ней будут зарегистрированы спеклы. [44]
Аналогичный эффект имеет место, если глаз заменить фотоаппаратом: после проявления на фотоизображении будут наблюдаться спеклы ( пятна), которые определяются апертурой объектива. Чем больше апертура, тем тоньше структура спеклов, поскольку диаметр дифракционной картины, создаваемой объективом, убывает с увеличением его апертуры. Но чтобы получить спеклы, совершенно необязательно иметь изображение объекта. Диффузный объект освещаемый лазером, создает спекл-структуру во всем пространстве, которое его окружает. Достаточно поместить фотопластинку на каком-нибудь расстоянии от объекта, и на ней будут зарегистрированы спеклы. [45]
Страницы: 1 2 3 4