Cтраница 2
![]() |
Зависимость глубины покрытий от состава насыщающей смеси для композиции В Сг ( а и Al Si ( б. [16] |
В результате исследования диаграмм Состав насыщающей смеси-глубина покрытия ( рис. 1) нами установлены 2 типа. Первый характеризуется наличием области составов смесей, в которых покрытия либо совсем не образуются, либо имеют минимальную глубину. [17]
Мы начнем с исследования диаграммы на рис. 8.9, на которой показаны пороги квантования выборок двух коррелируемых сигналов. Распределение вероятностей хну дается выражением (8.1), а отклик коррелятора пропорционален интегралу этой вероятности по плоскости ху с весовыми коэффициентами, равными 1 и нулю, как показано на рисунке. [18]
Настоящая работа посвящена исследованию диаграмм состоя-ния ряда разрезов тройной диаграммы и в целом системы NaF - AlF3 - LiF. Применяли дифференциально-термический, рентгенографический и кристаллооптический методы анализа. [19]
На втором этапе программы исследования диаграммы направленности в конструкцию были внесены некоторые изменения. Во-первых, был уменьшен с 203 до 178 мм радиус наружной поверхности решетки. [20]
Оптимальное планирование экспериментов при исследовании диаграмм: состав - свойство: Докл. [21]
В основе спектрофотометрического метода лежит исследование диаграмм состав-свойство различных типов. [22]
В основе спектрофотометрического метода лежит исследование диаграмм состав - свойство различных типов. [23]
![]() |
Некоторые q, / ( [ - решетки. [24] |
В этой работе рассматривается возможность исследования диаграмм состав - свойство в том случае, когда свойство представляет собой негладкую, но достаточно простую функцию. Обычно эта функция бывает кусочно-гладкая. Экспериментатора интересуют точки разрыва производной или область экстремальных значений. На примере уже построенной диаграммы Cd - Zn - Sn рассмотрен вопрос о возможности локализовать эти точки, приближая функцию полиномом невысокой степени. [25]
Использование термического анализа для построения и исследования диаграмм фазового равновесия полимерных систем имеет большие перспективы. Так, например, применительно к рассматриваемой диаграмме по аналогии с соответствующими низкомолекулярными системами, исходя из типа диаграммы можно заключить, что составы, содержащие пластификатор в количестве, не превышающем 30 %, имеют низкие литьевые свойства ( высокую вязкость расплава), но пластичны в твердом состоянии. Прочность их может быть повышена путем резкого охлаждения ( закалки) ниже температуры полиморфного превращения. [27]
Для объяснения отклонения максимума ИР обратимся к результатам исследований диаграмм направленности преобразователей, излучающих под первым критическим углом ( см. под-разд. Можно утверждать, что и в данном случае отклонение максимума от вертикали связано с наличием свободной поверхности дефекта при условии падения волны под углом, близким к третьему критическому. Ширина нижнего лепестка зависит от угла падения: с увеличением у наблюдается некоторое сужение лепестка. [28]
Экспериментально область гомогенности промежуточных фаз можно обнаружить при исследовании диаграмм состав - свойство. На рис. 106 представлен общий вид изотерм электрической проводимости и твердости в системе с образованием одного промежуточного соединения, причем вблизи ординат компонентов и соединения существуют области гомогенности. В гетерогенной области изотермы свойств имеют вид аддитивных прямых, а в области твердых растворов они подчиняются законам Курнакова. Характерной особенностью таких диаграмм состав - свойство является наличие особой точки на изотермах свойств, которая отвечает некоторому составу промежуточной фазы. При этом для любого измеряемого, при данных условиях физического свойства экстремальная точка на изотермах состав - свойство соответствует одному и тому же составу. Согласно Курнакову, такие особые точки на изотермах состав - свойство называются сингулярными. Данное понятие привлечено из геометрической топологии и характеризует точки, инвариантные относительно преобразования координат. [29]
Экспериментально область гомогенности промежуточных фаз можно обнаружить при исследовании диаграмм состав - свойство. [30]