Исследование - спектр - отражение
Cтраница 2
Первоначально этим соединениям авторы [45] приписали сэндвичевую структуру и постулировали псевдотетра-эдрическое расположение связей относительно атома металла. Однако после исследования спектров отражения в видимой области для этих соединений они пришли к заключению [46], что тетразольные комплексы имеют полимерную структуру, где каждый атом железа связан с двумя молекулами воды и четырьмя тетразольными группами, причем каждая из последних связана с двумя атомами железа. [16]
Возможно производить исследование спектров поглощения порошкообразных веществ, пользуясь отдельными кристалликами. При качественном изучении поглощения рассеивающих веществ в большинстве случаев прибегают к исследованию спектров отражения. Для этого спектрофотометрическим или спектрографическим методом производят сравнение состава непрерывного спектра излучения, отраженного от рассеивающей, но непоглощающей поверхности с составом света, отраженного от исследуемой поверхности. Во втором случае в спектре будут отсутствовать или окажутся ослабленными по сравнению с первым спектром те участки спектра, которые полностью или частично поглощаются исследуемым веществом. Спектры отражения дают лишь грубые сведения о поглощательной способности вещества, так как остается неизвестной глубина проникновения падающих лучей в слой вещества. Вследствие неодинаковой глубины проникновения лучей различной частоты в глубь исследуемого вещества равное ослабление, найденное в спектре отражения для двух различных участков спектра, в частности полное поглощение некоторых участков, не указывает еще на равенство коэффициентов поглощения для соответствующих частот. [17]
 |
Схема рефрактометра Пульфриха. [18] |
Для исследования спектра пропускания сильно поглощающих излучение сред требуется использование тонких образцов, толщина которых составляет 2 - 3 мкм. Минимум кривой пропускания при умеренном поглощении близок по положению к максимальному значению х2 для длины волны Ко. Однако получить спектры пропускания затруднительно из-за сложности изготовления образцов. Поэтому переходят к исследованию спектра отражения вещества. В случае внешнего отражения рис. 2.4.7 в - 1), когда показатель преломления внешней среды п мал ( i х 1), кривая отражения R имеет минимум для длины волны Ко, где п HZ-Максимум кривой смещен по отношению к контуру поглощения в сторону больших длин волн. [19]
Иначе протекает процесс кристаллизации стекла при 620 С в подкорковых частях образца. Здесь скорость роста кристаллов кремнезема и высокощелочного силиката натрия значительно меньше, чем на поверхности. Скорость диффузии ионов натрия больше скорости роста вышеупомянутых кристаллов, поэтому между компонентами, богатыми натрием, и компонентами, богатыми кремнеземом, успевает пройти химическая реакция: в результате в о внутренних слоях кристаллизуется другое соединение. Этот вывод подтверждается исследованием спектров отражения корковых частей стекол, подвергнутых тепловой обработке при 570 С. Спектры наружных и внутренних слоев стекла, закристаллизованного при этой температуре, показаны на рис. 11.59 и 11.92. Скорость кристаллизации при этой температуре очень мала, поэтому даже за 12 суток тепловой обработки на его поверхности успевает образоваться всего лишь тонкая кристаллическая корочка толщиной - 0 5 мм, а вся остальная часть представляет собой стекло. Так как скорость кристаллизации меньше или соизмерима со скоростью химической реакции, то на поверхности образца ( рис. 11.59) сразу же образуется соединение, спектр которого аналогичен спектральным кривым внутренних слоев. [20]
Страницы: 1 2