Исследование - структура - вещество
Cтраница 1
Исследование структуры веществ, относящихся к гомологическому ряду парафиновых углеводородов, проводят по характеристическим частотам, установленным Б. И. Степановым ( см. гл. [1]
Для исследования структуры вещества наряду с рентгеноструктурным анализом в настоящее время широко используется метод электронографии. Он основан на том, что дифракционные эффекты для электронов наблюдаются лишь при условии, что длина волны, связанной с электронами, имеет порядок величины межатомного расстояния в веществе. В связи с тем что электроны имеют значительно меньшую проникающую способность, чем рентгеновское излучение, электронография чаще применяется для исследования структуры поверхностей твердых тел, например при изучении коррозии и катализа. Для молекул газов, адсорбированных на поверхности твердого тела, с помощью дифракции электронов могут быть найдены межатомные расстояния и получены другие сведения. [2]
Для исследования структуры вещества наряду с рент-геноструктурным анализом в настоящее время широко используется метод электроногряфш. Он основан на том, что дифракционные эффекты для электронов наблюдаются лишь при условии, что длина волны, связанной с электронами, имеет порядок величины межатомного расстояния в веществе. В связи с тем что электроны Рис 37 4 имеют значительно меньшую проникающую способность, чем рентгеновское излучение, электронография чаще применяется для исследования структуры поверхностей твердых тел, например при изучении коррозии и катализа. Для молекул газов, адсорбированных на поверхности твердого тела, с помощью дифракции электронов могут быть найдены межатомные расстояния и получены другие сведения, характеризующие структуру молекул. [3]
Для исследования структуры вещества наряду с рентгенострук-турным анализом в настоящее время широко используется метод электронографии. Он основан на том, что дифракционные эффекты для электронов наблюдаются лишь при условии, что длина волны, связанной с электронами, имеет порядок величины межатомного расстояния в веществе. В связи с тем что электроны имеют значительно меньшую проникающую способность, чем рентгеновское излучение, электронография чаще применяется для исследования структуры поверхностей твердых тел, например при изучении коррозии и катализа. Для молекул газов, адсорбированных на поверхности твердого тела, с помощью дифракции электронов могут быть найдены межатомные расстояния и получены другие сведения, характеризующие структуру молекул. [4]
Для исследования структуры вещества наряду с рентгенострук-турным анализом в настоящее время широко используется метод электронографии. Он основан на том, что дифракционные эффекты для электронов наблюдаются лишь при условии, что длина волны, связанной с электронами, имеет порядок величины межатомного расстояния в веществе. В связи с тем что электроны имеют значительно меньшую проникающую способность, чем рентгеновское излучение, электронография чаще применяется для исследования структуры поверхностей твердых тел, например при изучении коррозии и катализа. Для молекул газов, адсорбированных на поверхности твердого тела, с помощью дифракции электронов могут быть найдены межатомные расстояния и получены другие сведения, характеризующие структуру молекул. [5]
Для исследования структуры вещества наряду с рентгено-структурным анализом в настоящее время широко используется метод электронографии. Он основан на том, что дифракционные эффекты для электронов наблюдаются лишь при условии, что длина волны, связанной с электронами, имеет порядок величины межатомного расстояния в веществе. В связи с тем, что электроны имеют значительно меньшую проникающую способность, чем рентгеновские лучи, электронография чаще применяется для исследования структуры поверхностей твердых тел, например при изучении коррозии и катализа. Для молекул газов, адсорбированных на поверхности твердого тела, с помощью дифракции электронов могут быть найдены межатомные расстояния, моменты инерции и получены другие сведения, характеризующие структуру молекул. [6]
Для исследования структуры веществ дифракционными методами используют рентгеновские лучи, потоки электронов, нейтронов или у-квантов. Направляемое на исследуемое вещество излучение должно иметь длину того же порядка или меньше, чем расстояние между атомами в молекулах или между частицами ( атомами, ионами или молекулами) в кристаллах. Проходя через вещество, излучение дифрагирует, возникающая дифракционная картина соответствует структуре вещества. К дифракционным методам относятся рентгенография, электронография, нейтронография и мессбауэрография. [7]
Метод исследования структуры вещества, основанный на наблюдении дифракции электронов и называемый электронографией, по существу во многом сходен с рентгенографией, но имеет ряд особенностей, отличающих его от последней, а также от нейтронографии. [8]
При исследовании структуры вещества в качестве параметров спектра ЯМР используют значения химического сдвига между пиками и констант сверхтонкого расщепления, определяющих структуру самого типа поглощения. Структура пика поглощения и значение констант расщепления позволяют судить об окружении данной группировки, о том, какие группы влияют на сверхтонкое расщепление этого типа. [9]
Предназначен для исследования структуры вещества методом дифракции электронов. Возможно исследовать на просвет объекты толщиной до 0 1 мк и поверхность объектов не более 10ХЮХЗ мм в отраженных лучах. [10]
В настоящее время исследование структуры вещества с помощью дифракции нейтронов - нейтронография - получает все более широкое применение. Дифракция нейтронов позволяет исследовать упорядоченные структуры сплавов типа FeCo, Ni3Mn, у которых близость атомных номеров не позволяет различать методами дифракции рентгеновских лучей или электронов атомы различных типов Нейтроны рассеиваются ядрами этих ато мов различно, и установить их взаимное расположение оказалось возможным мето дом нейтронографии. Любопытно, что уста новить структуру кристалла льда-опре делить расположение в нем атомов кисло рода и водорода - удалось лишь методом нейтронографии. [11]
В настоящее время исследование структуры вещества с помощью диф - ракции нейтронов - нейтронография - получает все более широкое применение. [12]
 |
Схема расположения линий комбинационного рассеяния относительно возбуждающей линии.| Примеры спектров. [13] |
К спектральным методам исследования структуры веществ наряду с инфракрасной спектроскопией относится спектроскопия комбинационного рассеяния. [14]
На этом основан метод исследования структуры вещества с помощью наблюдения дифракции электронов, называемый электронографией. Электроны имеют меньшую проникающую способность по сравнению с рентгеновскими лучами. Поэтому электронографический метод изучения строения вещества оказывается особенно полезным для исследования структуры поверхностей твердых тел. Например, на поверхности металлов в результате взаимодействия с внешней средой ( окисление и другие процессы) происходит разрушение твердого тела. Для изучения различных разрушений с успехом применяется электронография. Специальные приборы для наблюдения дифракции электронов называются электронографами. [15]
Страницы: 1 2 3 4