Длина - линия - связь - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Никому не поставить нас на колени! Мы лежали, и будем лежать! Законы Мерфи (еще...)

Длина - линия - связь

Cтраница 3


Из табл. 2.1 видно, что с ростом N увеличивается длина линий связи. Поэтому при конструировании БИС и СБИС необходимо предусмотреть достаточную площадь кристалла для выполнения межэлементных связей. Эта площадь зависит в основном от числа соединительных трасс, или трассировочной способности Т кристалла БИС: Т [ п / ( Зт ]) ] Ы5 / 6, где п - усредненная нагрузочная способность ЛЭ, численно равная среднему числу входов ЛЭ; ц - коэффициент заполнения трасс кристалла.  [31]

32 Схема автоматического электронного потенциометра. [32]

Милливольтметры используют благодаря простоте сравнительно часто, однако их применение ограничено длиной линии связи, сравнительно невысокой точностью и отсутствием регистрации показаний.  [33]

Такие пункты управления размещаются обычно в непосредственной близости от объекта управления, что позволяет сократить длину линий связи. В зависимости от конкретных особенностей производства, общей организации управления на предприятии пункты управления могут обслуживаться либо постоянными операторами, либо одним оператором, работающим в режиме обходчика.  [34]

35 Модель дуплексного КС. [35]

В моделях KCi и КС2 имитируется время задержки кадра в канале в зависимости от типа и длины линии связи. Моделируется также работа приемной части станции HDLC по стиранию кадров при обнаружении ошибок во флаговых комбинациях или внутренней области кадра.  [36]

Основным преимуществом систем с адресным повторением являются уменьшение потерь времени на повторение и практически полная независимость от длины линии связи при условии использования запоминающего устройства большой емкости.  [37]

Основным достоинством систем с адресным повторением является уменьшение потерь времени на повторение и практически полная независимость от длины линии связи, при условии использования БЗУ большой емкости.  [38]

Однако, как показывают расчеты для сред с высокой электропроводностью - растворов солей, щелочей и кислот - длина линии связи может быть увеличена до 200 - 300 м без появления дополнительной погрешности измерения.  [39]

Будем считать, что экономические потери пропорциональны длине линии связи, а так как полные потери зависят от расстояния ( длины линии связи), при построении структуры будем считать его основной переменной.  [40]

41 Зависимость собственной и системной задержек распространения сигнала от плотности компоновки. [41]

Исследования и практический опыт показали, что достижение высокого быстродействия устройств цифровой обработки информации даже при использовании сверхбыстродействующей элементной базы невозможно без соответствующего сокращения длины линий связи. Если не принято специальных мер, то уменьшение задержек в самих логических элементах путем оптимизации схем, ужесточения технологических допусков, как правило, не приводит к пропорциональному уменьшению задержек сигналов в системах. Например, элементы быстродействующих серий 100, 500 на базе логики ЭСЛ-типа в системах характеризуются удельной задержкой 2 5 - 3 не при собственной задержке элемента 1 5 - 2 не.  [42]

43 Зависимости стоимости С системы ТС - ТУ от суммарной протяженности линий связи / при постоянном числе контролируемых пунктов пconst и различном числе проводов линии S. [43]

Как следует из рисунка, по экономическим соображениям целесообразно применять устройства с двухпроводной линией связи при / / кр и многопроводные с числом проводов sn, если длина линии связи / / пр.  [44]

Таким образом, создание сверхбыстродействующих систем цифровой обработки информации ( вычислительных систем четвертого поколения) предполагает выпуск элементной базы таких систем в виде БИС и разработку новых методов монтажа, сокращающих длины линий связи. Однако реализация быстродействующих ВС на интегральных схемах большой степени интеграции ( БИС) может оказаться экономически не оправданной, если такие БИС проектировать как функционально законченные, поскольку число типов БИС М растет, а тиражность их падает с ростом степени интеграции.  [45]



Страницы:      1    2    3    4