Микродифракционное исследование

Cтраница 1

Микродифракционное исследование в электронном микроскопе позволяет производить кристаллоструктурный фазовый анализ и находить взаимную кристаллографическую ориентировку микрообластей объекта, отдельных карбидных, нитридных, интермегал-лидных и прочих включений, в том числе неметаллических, независимо от их относительного количества и распределения в структуре объекта; изучать микродеформации кристаллической решетки в результате пластической деформации и фазовых превращений, а также у границ зерен. [1]

Пластинчатые кристаллы полиэтилена. [2]

Микродифракционные исследования состоят в том, что, применяя электронный пучок крайне малого диаметра, получают дифракционную картину от областей размером порядка 0 1 - 0 01 мк. [3]

В книге не рассматриваются вопросы дифракционных и микродифракционных исследований, не представляющих особенных методических затруднений. [4]

Важным является получение информации о составе и кристаллической структуре изучаемых образцов, что достигается микродифракционными исследованиями, а также регистрацией рентгеновского излучения, возбуждаемого взаимодействием электронного пучка с образцом. [5]

Электронный микроскоп позволяет исследовать объекты на просвет в широком диапазоне увеличений, получать светлопольные и темнопольные изображения, проводить дифракционные исследования избранного участка объекта на просвет и микродифракционные исследования участков объектов с локальностью 2 - 3 мк. [6]

Электронный микроскоп позволяет исследовать объект на просвет в широком диапазоне увеличений, получать темнопольные и светлопольные изображения, проводить дифракционные исследования избранного участка на просвет и на отражение, микродифракционные исследования участков объектов с локальностью 1 - 2 мк. [7]

Пластинчатые кристаллы полиэтилена. [8]

Толщина пластинчатых кристаллов составляет 100 - 150 А, а размеры отдельных кристаллов достигают нескольких сотен микрон. При микродифракционном исследовании таких кристаллов получаются электронограммы, типичные для монокристаллических структур. [9]

Для выпущенных в предыдущие годы микроскопов ЭМ-3 и УЭМ-100 разработаны дополнительные узлы с Промежуточной линзой. Установка этих узлов в старые микроскопы позволяет и на них проводить микродифракционные исследования. [10]

Позволяет проводить исследования в светлом и темном поле. С помощью этого микроскопа исследуют объекты на просвет; получают светлопольные и темнопольные изображения; производят дифракционные исследования участков объектов на просвет; микродифракционные исследования объектов с локальностью 1 - 2 мкм. При эксплуатации микроскопа могут использоваться следующие приставки. [11]

Дифрактограм-ма от частички мезофа-зы, в которой слои расположены параллельно падающему рентгеновскому лучу. Дуги линий ( 002 и ( 004 указаны стрелками. [12]

Эти частички нерастворимы в пиридине и хинолине. Наблюдения их в поляризованном свете, особенно частичек малых размеров, показывают ярко выраженную оптическую анизотропию. Микродифракционные исследования их ультратонких срезов также позволили установить предпочтительную ориентацию молекулярных слоев. [13]

Основным преимуществом метода отпечатков с фиксированными частицами является возможность электронографического исследования этих отпечатков, что позволяет просто и надежно идентифицировать по составу выделившиеся фазы. В случае применения титановых пленок такое исследование рекомендуется проводить лишь в том случае, когда в препарате содержится достаточно большое количество частиц. В противном случае дифракционная картина титана не позволит наблюдать отражения, соответствующие выделившейся фазе. Однако, если микроскоп позволяет производить микродифракционные исследования, то этот недостаток титановых отпечатков, очевидно, становится несущественным, поскольку изучаются отражения электронов от малого участка поверхности, занимаемого только частицей выделения. [14]

Страницы: 1