Cтраница 2
Источником погрешностей, вносимых упругими измерительными элементами, является несовершенство упругих свойств материалов, характеризующееся упругим последействием и упругим гистерезисом. [16]
Источником погрешностей в иодиметрии является недостаточная устойчивость раствора иода, связанная с его летучестью, малой растворимостью и склонностью иодида окисляться кислородом воздуха. В связи с этим иодиметрическии метод имеет ограниченное применение. [17]
Источниками погрешностей в панорамных рефлектометрах являются: нестабильность амплитуды падающей волны и неидентичность характеристик направленных ответвителей и детекторных головок. [18]
Источником погрешности может быть технологический разброс параметров элементов, их температурный и временной дрейфы, а также шумы и наводки. [19]
Источником погрешностей здесь может быть растворение атомного водорода в некоторых металлах ( гл. IV), а также наличие окисных слоев на поверхности, восстанавливаемых при катодной поляризации. [20]
Источниками погрешностей в действительной зубчатой передаче являются погрешности технологического процесса изготовления колес, деталей крепления и монтажа передачи в целом. [21]
Источниками погрешностей в действительной зубчатой передаче являются погрешности технологического процесса изготовления колес, детглей крепления и монтажа передачи в целом. [22]
Источниками погрешностей могут быть: геометрическая неточность станка, ошибки при установке и зажиме заготовок, ошибки при установке инструмента на размер, упругие деформации системы СПИД ( станок - приспособление - инструмент - деталь), возникающие под действием силы резания, температурные деформации инструмента, обрабатываемой детали и отдельных деталей и узлов станка, размерный износ инструмента. [23]
![]() |
Измерительное устройство угол - фаза-код. [24] |
Источниками погрешностей в таких измерительных схемах являются высшие гармоники и квадратурные составляющие. [25]
Источниками погрешности являются: отклонения действительных значений ЭДС нормального элемента и сопротивлений образцовых резисторов от номиналов; неточность установки моментов компенсации, зависящая от разрешающей способности гальванометра; погрешность делителя ( при измерении напряжений выше 2 В); температурные влияния, обусловленные, в частности, термоконтактной ЭДС. [26]
Источниками погрешности являются: погрешность образцовой аппаратуры, по которой производится градуировка, погрешность градуировки, случайная погрешность стрелочного прибора, нестабильности канала преобразования, неравномерность шкалы, возникновение паразитных термо - ЭДС, обусловленных изменением температуры в пределах нормальной области, наличие собственных шумов, которые сказываются на нижних пределах измерения. [27]
Источником погрешности при переходном процессе является изменение V 0 в зависимости от тока базы в момент перехода ключа из разомкнутого состояния в замкнутое. Ток базы / ь не изменяется мгновенно, а поскольку V0 зависит от / 6, то V 0 не достигает мгновенно своего конечного значения. Когда время установления / ь мало по сравнению с временем сканирования переключаемого сигнала, погрешностью, вносимой переходным процессом, можно пренебречь. [28]
Источниками погрешностей для неастатического преобразователя могут быть помимо внешнего магнитного поля изменение окружающей температуры и влияние самого поля, воздействующего на магнит. Эти факторы вызывают изменение магнитного момента магнита, а следовательно, изменяют и чувствительность преобразователя. Кроме того, при изменении температуры изменяется W подвеса. [29]
Источником погрешностей может быть также растворение газа в запирающей жидкости, в особенности в тех случаях, когда некоторые компоненты, входящие в состав газа, хорошо растворяются в запирающей жидкости; так, например, сероводород, двуокись углерода, ацетилен и другие хорошо растворяются в воде. Поэтому перед анализом запирающую жидкость насыщают анализируемым газом. Однако этот прием имеет действенное значение только в тех случаях, когда анализируется довольно простая газовая смесь, в которой требуется определить лишь один какой-либо компонент. [30]