Cтраница 3
Должен знать: принцип действия и блок-схемы измерительных приборов; принципы магнитной записи звука, осциллографирования н тензометрирования; причины и источники погрешности измерения; правила организации и порядок проведения акустических испытаний; основы технической акустики и техники борьбы с шумом и вибрацией, физическую природу воздушного в подводного шумов, вибрации) основы электротехники. [31]
Должен знать: принцип действия и блок-схемь измерительных приборов; принципы магнитной записи звука, осциллографирования и тензометрирования; причины и источники погрешности измерения; правила организации и порядок проведения акустических испытаний, основы технической акустики и техники борьбы с шумом и вибрацией, физическую природу воздушного и подводного шумов, вибрации; основы электротехники. [32]
Должен знать: принцип действия и блок-схемы измерительных приборов; принципы магнитной записи звука, осциллографирования и тензометрирования; причины и источники погрешности измерения; правила организации и порядок проведения акустических испытаний; основы технической акустики и техники борьбы с шумом и вибрацией, физическую природу воздушного и подводного шумов, вибрации; основы электротехники. [33]
Должен знать: принцип действия и блок-схемы измерительных приборов; принципы магнитной записи звука, осцнллографирования в тензометрирования; причины и источники погрешности измерения; правила организации и порядок проведения акустических испытаний; основы технической акустики и техники борьбы с шумом и вибрацией, физическую природу воздушного в подводного шумов, вибрации основы электротехники. [34]
Изложенный выше материал по методике оценки погрешности расходомерных установок, вносимой разновременностью срабатывания перекидного устройства, показывает, с какими сложными вопросами приходится сталкиваться при метрологической аттестации и как важно понимать причины и знать источники погрешностей измерений. [35]
Источники погрешности измерений различны, основными из них являются погрешность изготовления мер и измерительных приборов, которыми производятся измерения; субъективные особенности наблюдателя; влияние окружающей среды и ряд других факторов. [36]
![]() |
Измерение фазы методом эллипса. [37] |
Недостаток данного метода заключается в малой точности измерения угла р, зависящей от его величины, а также от фазового сдвига, получающегося в усилителях вертикального и горизонтального отклонения осциллографа. Источниками погрешностей измерения ф являются также присутствие высших гармоник в исследуемых напряжениях и конечная толщина ( не менее 1 мм) светящейся линии эллипса. [38]
Прежде всего мы получим расчетные формулы, которыми обычно пользуются для определения затухания. Затем будут рассмотрены источники погрешностей измерений и их относительный вклад. При этом основное внимание мы уделим тем первичным источникам погрешностей, которые существуют даже в случае однородных сред. [39]
Второй аспект характеризуется гармоничным учетом всех составляющих лабораторного анализа, отражающихся на качестве конечных результатов. Необходимо принимать во внимание все источники погрешностей измерений, наличие и доступность стандартных образцов или образцовых измерительных средств и аттестованных методик поверки, длительность анализа, стоимость аппаратуры и реактивов, форму представления экспериментальных данных, сопрягаемость анализаторов с ЭВМ, эргономические показатели, надежность, ремонтоспособ-ность приборов. [40]
Необходимо разграничивать погрешности измерений и погрешности средств измерений. Несовершенство измерительных приборов является лишь одним из источников погрешности измерений. [41]
![]() |
Оптическая схема осветительной системы двухканаль-ного атомно-абсорбционного спектрофотометра. [42] |
В атомно-абсорбционном анализе применяют одно -, двух - и многоканальные спектрометры. Для увеличения стабильности работы и уменьшения влияния источников погрешностей измерения на результаты анализа применяют луч сравнения, которым может быть немонохроматический свет от лампы полого катода или какая-нибудь нерезонансная спектральная линия. Свет лампы полого катода / попадает на светоделитель 2, который разделяет его на два потока одинаковой интенсивности. С помощью системы зеркал оба потока могут быть сфокусированы на щель 6 прибора. [43]
В нем отмечено, что для межлабораторной аттестации желательно использовать два или три метода, основанные на различных принципах, но имеющие сравнимые характеристики и дающие максимальную точность. Важно также иметь несколько квалифицированных лабораторий для определения источников погрешности измерений в процедуре и в измерительных установках каждого из участников эксперимента, а также для корректировки этих источников перед проведением аттестации. В простейшей форме аттестация, основанная на статистическом согласовании деятельности нескольких лабораторий, состоит в получении результата от возможно большего числа лабораторий, математического анализа результатов, отбрасывании статистически выпадающих данных и использовании среднего арифметического в качестве аттестованного значения. [44]
На рис. 5.14, в приведена эквивалентная мостовая схема, составленная из перечисленных резисторов, в диагонали которой напряжение еЕК - результат воздействия помехи общего вида. На резисторе Явх выделяется напряжение евк, служащее источником погрешности измерения. [45]