Cтраница 1
Источники случайных погрешностей различны. Они возникают вследствие несовершенства органов чувств экспериментатора, несовершенства приборов. Кроме того, они зависят от условий, в которых производятся изменения, и от опытности экспериментатора. [1]
Источником случайных погрешностей могут быть неконтролируемые изменения параметров эксперимента в сложной системе, неконтролируемые изменения внешней среды ( температура, влажность), неоднородность материалов образца, психологические особенности человека. [2]
Источником случайных погрешностей, обусловленных эталонами, является локальнай неоднородность отдельных порций эталона, расходуемых при выполнении единичного определения. [3]
Источником случайных погрешностей, обусловленных эталонами, является локальная неоднородность отдельных порций эталона, расходуемых при выполнении единичного определения. [4]
![]() |
Игольчатый уровнемер. [5] |
Источником случайных погрешностей при измерениях игольчатым уровнемером, кроме несовершенства органов чувств наблюдателя, является прилипание жидкости к острию иглы, вызывающее некоторую неточность установки острия на уровень. [6]
Наиболее часто встречающимся источником случайных погрешностей для контрольных приспособлений являются погрешности измерения, вызываемые колебаниями размеров самих проверяемых деталей в пределах установленных полей допусков. [7]
Наиболее часто встречающимся источником случайных погрешностей для контрольных приспособлений являются погрешности измерения, вызываемые колебаниями размеров проверяемых деталей в пределах установленных полей допусков. [8]
![]() |
Влияние выбора соотношения количеств твердой и жидкой фаз на погрешность определения криоскопического понижения температуры. [9] |
Метод имеет два источника случайных погрешностей: первый обусловлен измерением температуры, второй - измерениями доли жидкой фазы. [10]
Практически полностью исключить все источники случайных погрешностей, кроме статистической погрешности в измерении активности, удалось с помощью двухканальных вращающихся систем. Эти системы позволяют одновременно облучать пробы и эталон в хорошо усредненном потоке нейтронов. [11]
ИИС [55], в которых источниками случайных погрешностей являются соответствующие датчики случайных величин, реализованные программным путем. [12]
В первичных преобразователях термоконвективного типа, функционирующих в МНТИС, источниками случайных погрешностей могут быть флуктуационные изменения мощности источника нагрева, температуры потока и окружающей среды, тепло-потерь в окружающую среду. [13]
Подобные рассуждения заставляют все остальные приведенные выше факторы отнести также к источникам случайных погрешностей. [14]
Случайная погрешность - составляющая погрешности результата измерения, изменяющаяся случайным образом ( по знаку и значению) при повторных измерениях, проведенных с одинаковой тщательностью, одной и той же физической величины. Источники случайных погрешностей многообразны, их учет практически неосуществим. Случайные погрешности не поддаются исключению из результатов измерений. [15]