Новый источник - излучение
Cтраница 1
Новый источник излучения - лазер ( разд. Важное преимущество лазера заключается в том, что с его помошью можно испарить контролируемое количество материала ( от 0 1 до 1 0 мкг) точно с того места исследуемого образца, которое выбрано под микроскопом. Лучшая локальность анализа достигается с помощью неконтролируемого лазера с энергией, не превышающей 1 Вт-с ( мощностью не более 1 кВт), в сочетании со вспомогательной искрой. При кратере диаметром и глубиной 0 03 - 0 05 мм на фотопластинках с чувствительной эмульсией можно получить спектры, дающие информацию о главных компонентах. [1]
Для фотометрических детекторов в настоящееэремя ведется поиск новых источников излучения, конструкций / проточных ячеек, методов регистрации и обработки сигналов. & ти исследования, несомненно, приведут к распространению применения фотометрических детекторов иа новые области. [2]
Для фотометрических детекторов в настоящееэремя ведется поиск новых источников излучения, конструкций / проточных ячеек, методов регистрации и обработки сигналов. [3]
Если плазма находится в магнитном поле, то возникает совершенно новый источник излучения. [4]
Трубка с тлеющим разрядом, предложенная Гриммом [ [6, 7], является новым источником излучения, который имеет преимущества при анализе металлических проб. [5]
Далее происходит сравнение данных анализа с результатами, полученными ранее с целью выявления новых источников излучения. Для каждого из возможных радиоэлектронных средств противника запрограммирован соответствующий вид РП. Логические устройства передатчиков позволяют реализовать эту программу на основе результатов анализа принятого излучения. [6]
 |
Дифракция на отраженной решетке. [7] |
При освещении дифракционной решетки потоком излучения, прошедшим через щель, каждый штрих решетки становится новым источником излучения. В результате интерференции многочисленных потоков излучение разлагается на компоненты с различными длинами волн. Если диспергированный поток излучения сфокусировать на плоской поверхности, получится спектр, форма которого повторяет форму входной щели. [8]
Пути повышения чувствительности и разрешения спектральных методов исследования заключаются либо в дальнейшем усовершенствовании регистрирующей аппаратуры, либо в использовании новых источников пробного излучения. Первый путь исчерпал себя, так как спектральная аппаратура достигла практически предела своего совершенствования. [9]
 |
Примеры спектральной полосы пропускания для различных решеток, порядков, фокусных расстояний и ширин щели. [10] |
Хотя основы оптических схем, используемых в настоящее время в АЭС, описаны несколько десятилетий назад, усовершенствования в процессах производства ( решетки, коррекция аберраций, точность обработки и оптической настройки, точность и скорость вращения решетки или смещения выходной щели) вместе с доступностью новых источников излучения объясняют, почему методы АЭС столь распространены и коммерчески успешны. [11]
 |
Продольное сечение зеркала прожектора. [12] |
Расходимость пучка лучей, полученного от дуговой лампы и зеркала диаметром 2 м, составляет примерно 1 угловой градус. В последние годы разработаны новые источники излучения - оптические квантовые генераторы или лазеры, которые дают значительно более узкие пучки световых лучей. С помощью лазеров с сечением порядка I см2 удается получить пучки лучей с расходимостью всего несколько минут. [13]
Дальность действия телефонной связи на инфракрасных лучах, разумеется, зависит не только от прозрачности атмосферы, но и от яркости источника излучения, диаметра оптической системы и чувствительности приемника. Появление в последнее время таких новых источников излучения, как ксеноновых дуговых ламп с яркостью свечения, доходящей до 2 млн. стильбов, позволяет предвидеть дальнейшее развитие инфракрасной телефонии. [14]
Эта задача усложняется тем, что новые источники излучения имеют большие светящие тела с неравномерным распределением яркости по поверхности и в пространстве. Кроме этого, возникла необходимость в сложных кривых светораспределения приборов и достаточно точном воспроизведении их от образца к образцу. [15]
Страницы: 1 2