Cтраница 3
Главным источником погрешностей является отклонение работы контактов СД от идеальной. [31]
Трудности получения мелкоразмерных точных отверстий заключаются в том, что имеется большое число факторов, определяющих работу разверток, каждый из которых может давать погрешность той же величины, что и допуск на размер. Главными источниками погрешностей, встречающимися при развертывании, являются следующие. [32]
Было установлено, что воспроизводимость результатов измерений для одного и того же наблюдателя чрезвычайно высока и что результаты измерений, полученные при участии различных наблюдателей со сходным цветовым зрением, также хорошо согласуются между собой. Главным источником погрешностей при использовании установки описанного типа является воспроизводимость характеристик самой установки. [33]
Несмотря на высокое качество современных токарных станков и совершенство методов их использования, в процессе токарной обработки образуются погрешности, снижающие ее точность. Главным источником погрешностей токарной обработки является недостаточная жесткость системы станок - приспособление - инструмент - деталь, или сокращенно - системы СПИД. Погрешности от упругих деформаций системы СПИД составляют в отдельных случаях до 80 % общей погрешности обработки. [34]
В конкретных практических измерениях при наличии примесей необходимо убедиться в надежности измерений путем сопоставления потенциалов, измеренных в совершенно чистом растворе известного состава и в искусственно загрязненном примесью. Однако главным источником погрешностей в определении активностей методом прямой по-тенциометрии являются диффузионные потенциалы, которые входят в качестве составной части в измеренную ЭДС. Если в задачу входит определение средних активностей электролитов, то путем использования гальванических ячеек без переноса можно получать значения ЭДС, которые не содержат значений диффузионных потенциалов. [35]
![]() |
Схемы частотомеров с объемными резонаторами. [36] |
Шкала настройки частотомеров с объемными резонаторами градуируется с помощью измерительного генератора соответствующего диапазона частот. Следовательно, главным источником погрешности градуировки является погрешность установки частоты по шкале генератора. Чтобы не усугублять погрешность измерения неточностью настройки в резонанс, добротность объемного резонатора доводят до очень высокого значения. К недостаткам частотомеров с объемными резонаторами относится малое перекрытие, что приводит к необходимости иметь большое их число для измерения нужного диапазона частот. [37]
![]() |
Схемы частотомеров С оОъбМНЫМИ рСЗОНЭТОраМИ. [38] |
Шкала настройки частотомеров с объемными резонаторами градуируется с помощью измерительного генератора соответствующего диапазона частот. Следовательно, главным источником погрешности градуировки является погрешность установки частоты по шкале генератора. Чтобы не усугублять погрешность измерения неточностью настройки в резонанс, добротность объемного резонатора доводят до очень высокого значения. Это достигается полировкой и золочением внутренней поверхности резонатора; пр. К недостаткам частотомеров с объемными резонаторами относится малое перекрытие, что приводит к необходимости иметь большое их число для измерения нужного диапазона частот. [39]
Недостаток места не позволяет полностью изложить теорию акустического интерферометра. Рассмотрим основные вопросы и главные источники погрешностей. [40]
Кроме того, время разряда ( или серии разрядов) должно быть тем короче, а период между разрядами тем длиннее, чем больше разница между температурами кипения основного и определяемых элементов. В этом случае фракционное испарение не является главным источником погрешности анализа ( разд. Чем больше летучесть основного металла, тем меньше требуется энергии для возбуждения. [41]
Экстраполяция кинетических величин на более низкие температуры неизбежно связана с внесением погрешности. Если аррениусовский ход параметра действительно сохраняется при более низкой температуре, то главный источник погрешности - неточность в измерении энергии активации. [42]
Результаты, относящиеся к высшим температурам, не могут быть сопоставлены с данными других авторов за отсутствием соответствующего опытного материала. Но так как условия определений теплоемкости не изменены переходом к высокой температуре и главный источник погрешности - усиленное испарение - устранен, то нет основания считать опыты, произведенные при высокой температуре, менее точными. На это указывает и хорошее согласие, наблюдаемое между данными двух повторных опытов, и малая величина поправки на потери тепла во время нагревания. [43]
При определении знаменателя, как указано выше, невозможно учесть ту долю подводимой энергии, которая потенциально способна возбуждать люминесценцию. В силу этого при вычислении отдачи в расчет идет вся подводимая к экрану энергия. При ее оценке главный источник погрешностей лежит в способе измерения электрических величин. Напряжение и ток пучка измеряются в цепи катод - анод; как правило, наблюдаемые при этом величины всегда превышают действительно участвующие в возбуждении. Величина ошибки зависит от конструкции электронной оптики, способа измерения, системы фокусировки и управления лучом. Следует иметь в виду, что погрешности в измерении тока и напряжения всегда увеличивают знаменатель отношения и тем самым понижают величину отдачи. [44]
В момент равенства измеряемого и опорного напряжений на выходе появляется нулевой сигнал, который приводит к срабатыванию нуль-органа. На выходе появляется дискретный сигнал. В момент равенства напряжений на R2 и VD1 на выходе моста появляется нулевой сигнал, который приводит в действие нуль-орган. Главным источником погрешности полупроводниковых реле является зависимость параметров полупроводниковых приборов от температуры. Поэтому в схемы вводится температурная компенсация. В данной схеме для температурной компенсации последовательно со стабилитроном VD1 включается в прямом направлении диод. [45]