Существенный источник - ошибка
Cтраница 1
Существенный источник ошибок кроется, по-видимому, также в недостатках самой физической модели. В ней принималось, что электрон целиком локализован в полости, тогда как исследования, проведенные методом ядерного магнитного резонанса, показали максимальную плотность зарядового облака лишнего электрона в районе азотных ядер окружающих его молекул аммиака. Этот факт, несомненно, противоречит концепции электрона в полости и делает понятным наблюдаемое расхождение расчета с экспериментом. [1]
Существенным источником ошибок является неполное отделение фазы ионита от фазы раствора. В частности, с поверхности ионита не удается удалить тонкую пленку прилипшего внешнего раствора, как правило, имеющего значительно более высокую концентрацию электролита. Это вносит в результаты трудно. Трудно дать оценку результатов большинства работ по изучению необменной сорбции электролитов вследствие того, что на них несомненно сказывались подобные ошибки. [2]
Существенным источником ошибок, которого надо постоянно остерегаться, является личное предубеждение или предвзятость. Экспериментатор непроизвольно старается снять показание прибора так, чтобы улучшить воспроизводимость серии результатов или получить результат, как можно более близкий к некоему предвзятому значению действительной величины измерения. [3]
 |
Систематические и случайные погрешности ( ц, Я2 - истинные аналитические значения. у - среднее из данных анализа. [4] |
Существенными источниками ошибок могут быть отбор и подготовка проб. Систематически искажать результаты может состав пробы вследствие матричных эффектов. Устранение влияния матрицы с помощью уравнений (1.17) и (1.18) в принципе возможно, однако практически им редко пользуются. Наиболее частой причиной появления систематических ошибок оказывается неправильное градуирование на основе неподходящих градуировочных проб, несоответствие выбранного метода или недостаточная теоретическая обоснованность метода градуирования. [5]
Существенным источником ошибки может служить адсорбция некоторых катионов ( свинца, меди, серебра, хрома, кобальта, никеля и др.) фильтровальной бумагой. Адсорбция увеличивается с повышением рН и снижением концентрации фильтруемого раствора. Практически беззольная бумага содержит до 20 микроэлементов с концентрацией больше 1 мкг / г. Мембранные фильтры значительно чище. Концентрация микроэлементов в мембранных фильтрах из ацетилцеллю-лозы, полипропилена, фторуглеродов или поликарбонатов может быть снижена путем промывания кислотой перед применением. При этом содержание примесей снижается в 2 - 10 раз. [6]
Дополнительным существенным источником ошибок может быть распределение первичных частиц по энергии. В этом случае ( как это имеет место в космических лучах), когда энергетический спектр частиц, вызывающих ливни, представляется быстро падающей функцией, даже незначительные флуктуации в ливнях определенной энергии могут привести к большой ошибке. Причина заключается в том, что первичные частицы малых энергий представлены в спектре гораздо богаче и, следовательно, регистрируются с большей вероятностью, чем частицы больших энергий. Поэтому метод в описанной выше форме дает заведомо хорошие результаты лишь в случае, когда спектр первичных частиц постоянен или почти постоянен. Для исследования в космических лучах нужно помимо влияния спектра принять во внимание связь между полным числом частиц в звезде и величиной энергии. [7]
Наиболее существенными источниками ошибок являются: недостаточное флегмовое число или слишком большая скорость отбора; неправильное применение охлаждающей жидкости или другие неисправности, вызывающие изменение скорости испарения или давления в колонке; присутствие невыясненных или неожиданных компонентов; утечки или подсос, а также ошибки из-за мертвого пространства. [8]
Более существенным источником ошибок являются примеси, которые в процессе осаждения входят в состав кристалла. [9]
Существенным источником ошибок статистических данных служит недоучет объемов теневой экономики. Расчет показателей по теневой экономике является в настоящее время достаточно условным. [10]
 |
Чистейшие кристаллы, поставляемые фирмами. [11] |
В качеств существенного источника ошибок нужно обратить внимание на следующее. Обкладки на пластинку наносились так, как это делается в случае абсолютного конденсатора; обкладка, ведущая к электрометру, была при этом отделена от заземленного защитного кольца с помощью полоски изолятора. На этой полоске изолятора при каждом изменении потенциалов на противоположных обкладках образовывался наведением свободный заряд, который затем постепенно в течение 1 - 2 мин. [12]
 |
Чистейшие кристаллы, поставляемые фирмами. [13] |
В качеств существенного источника ошибок нужно обратить внимание на следующее. Обкладки на пластинку наносились так, как это делается в случае абсолютного конденсатора; обкладка, ведущая к электрометру, была при этом отделена от заземленного защитного кольца с помощью полоски изолятора. На этой полоске изолятора при каждом изменении потенциалов на противоположных обкладках образовывался наведением свободный заряд, который затем постепенно в течение 1 - 2 мин. [14]
При измерениях существенным источником ошибок может быть непостоянство температуры. Как правило, в зонды для компенсации изменений сопротивления, связанных с изменением температуры, вводят два датчика - один находится в агрессивной среде, другой защищен от ее воздействия. Чтобы обеспечить влияние различий в температурных коэффициентах сопротивлений этих датчиков, рекомендуется изготовлять их из одного и того же металла. [15]
Страницы: 1 2 3