Длина - волна - регистрируемый - излучение
Cтраница 1
 |
Схема Аббе с зеркалом. [1] |
Длина волны регистрируемого излучения увеличивается при вращении системы против часовой стрелки. [2]
Ввиду изменения угла е с длиной волны регистрируемого излучения, во избежание снижения разрешающей способности необходимо одновременно с вращением решетки поворачивать одну из щелей. [3]
Передающие электронно-лучевые трубки, несмотря на ограниченный диапазон по длине волны регистрируемых излучений ( примерно до 1 5 мкм), обладают ценными качествами: они позволяют получать видимое изображение без механического сканирования и видеосигнал, пригодный-для импульсной и логической обработки, имеют большое быстродействие, что позволяет вводить сигналы с видикона в ЭВМ. [4]
Сканированием называется непрерывная регистрация энергии в спектре при последовательном изменении длины волны регистрируемого излучения. Это осуществляется, например, путем поворота диспергирующего элемента или перемещением приемника по фокальной поверхности. [5]
Сканированием называется непрерывная регистрация анергии в спектре при последовательном изменении длины волны регистрируемого излучения. Это осуществляется, например, путем поворота диспергирующего элемента или перемещением приемника по фокальной поверхности. [6]
В симметричной схеме монохроматора нормального падения ( рис. 82, е) при изменении длины волны регистрируемого излучения можно осуществить фокусировку поступательным движением решетки вдоль биссектрисы ОР угла 0 между осями падающего и дифрагированного пучков с одновременным вращением решетки вокруг оси, проходящей через ее вершину О. [7]
Отношение числа электронов, испускаемых фотокатодом, к числу попавших на него квантов света - квантовый выход фотокатода - существенно зависит от длины волны регистрируемого излучения и достигает значения 0 2 - 0 25 в области наибольшей чувствительности. На рис. 4 приведены кривые спектральной чувствительности различных ФЭУ. [8]
Таким образом, на свойства фотослоя ( чувствительность, контрастность, широта эмульсии, зернистость, вуаль, фон) влияют условия и характер освещения, длина волны регистрируемого излучения, состав и свойства фотоматериалов, условия фотообработки. Все это должно быть учтено в процессе работы. [9]
Первичное излучение рентгеновской трубки вызывает флуоресценцию элементов, входящих в состав пробы. Излучение флуоресценции проходит вдоль набора продольных плоскопараллельных пластин, падает на кристалл-анализатор и, отражаясь от него, разлагается в спектр. Отражающееся в различных направлениях излучение определенных длин волн регистрируется счетчиком, совмещенным с гониометром. Такая схема прибора основана на принципе рентгеновской дифрактометрии. Этот метод отличается от рентгеновской спектроскопии только тем, что в нем задаются длиной волны регистрируемого излучения, а строение кристалл-анализатора остается неизвестным. В рентгеновской же спектроскопии имеет место обратное. [10]
Первичное излучение рентгеновской трубки вызывает флуоресценцию элементов, входящих в состав пробы. Излучение флуоресценции проходит вдоль набора продольных плоскопараллельных пластин, падает на кристалл-анализатор и, отражаясь от него, разлагается в спектр. Отражающееся в различных направлениях излучение определенных длин волн регистрируется счетчиком, совмещенным с гониометром. Такая схема прибора основана на принципе рентгеновской дифрактометрии. Этот метод отличается от рентгеновской спектроскопии только тем, что в нем задаются длиной волны регистрируемого излучения, а строение кристалл-анализатора остается неизвестным. [11]
Первичное излучение рентгеновской трубки вызывает флуоресценцию элементов, входящих в состав пробы. Излучение флуоресценции проходит вдоль набора продольных плоскопараллельных пластин, падает на кристалл-анализатор и, отражаясь от него, разлагается в спектр. Отражающееся в различных направлениях излучение определенных длин волн регистрируется счетчиком, совмещенным с гониометром. Такая схема прибора основана на принципе рентгеновской дифрактометрии. Этот метод отличается от рентгеновской спектроскопии только тем, что в нем задаются длиной волны регистрируемого излучения, а строение кристалл-анализатора остается неизвестным. [12]
Страницы: 1