Картина - дифракция
Cтраница 2
Изучетше картин дифракции света дает возможность решить проблемы, возникающие при работе на границе обычного оптич. Круг таких проблем довольно широк, поскольку все сферолпты, обнаруживаемые в технич. Переход к картине дифракции позволяет охарактеризовать препараты, содержащие большое число анизотропных элементов надмолекулярной структуры. Таким путем удается, в частности, регистрирован, и идентифицировать упорядоченные надсферолптные агрегаты, возникающие при нек-рых кристаллизационных процессах и образованные из очень малых сферолитов. [16]
Изучение картин дифракции света дает возможность решить проблемы, возникающие при работе на границе обычного оптич. Круг таких проблем довольно широк, поскольку все сферолиты, обнаруживаемые в технич. Переход к картине дифракции позволяет охарактеризовать препараты, содержащие большое число анизотропных элементов надмолекулярной структуры. Таким путем удается, в частности, регистрировать и идентифицировать упорядоченные надсферолитные агрегаты, возникающие при нек-рых кристаллизационных процессах и образованные из очень малых сферолитов. [17]
На картину дифракции вблизи точки х 2 ( рис. 44, б) также влияет поверхностный резонанс, происходящий в этой точке. [18]
В картине дифракции, создаваемой пространственной решеткой, происходит наложение интерференционных картин от трех линейных решеток. Поэтому вместо двух условий ( 7) и ( 8) для существований светлого пятна требуется выполнение трех условий. [19]
Это напоминает картину дифракции лучей в полиэтилене и других полимерах предельных углеводородов при температурах ниже точки их плавления. [20]
Если посмотреть картину дифракции монохроматического пучка рентгеновских л чеп, бпошен: юги на такой образец перпендикулярно к его оси симметрии, то на рентгенограмме обнаружится некоторое количестве точечнообразных пятен тем ближе напоминающих точки, чем лучше ориентированы молекулы образца. [21]
Хотя по картине дифракции медленных электронов можно определить двумерную элементарную ячейку на поверхности, без интерпретации кривой распределения интенсивности обычно, кроме некоторых простых случаев, не удается однозначно установить расположение и тип атомов, входящих в ячейку. Тем не менее измерение кривой распределения чрезвычайно полезно для идентификации данного вещества и для определения изменений структуры поверхности. [22]
 |
Пространственный спектр спекл-структуры ( в случае когда звезда разрешается телескопом, рассматриваемый как картина дифракции на круглом отверстии. [23] |
Можно легко рассчитать картины дифракции при разных законах изменения пропускания. [24]
Количественная оценка изменения картин дифракции может быть проведена сравнением интегральной интенсивности, формы и высоты максимумов над фоном для выбранных рефлексов. Изменение интегральной интенсивности является следствием изменения числа упорядоченных областей, а по расширению рефлексов можно оценить размер этих участков. [25]
С помощью Фурье-анализа картин дифракции и микрофотографий высокого разрешения установлено, что пленки состоят из псевдозерен размером 1 - 3 нм, в которых сохраняется дефектный структурный мотив исходного вещества и аморфной матрицы - межзереннои прослойки. [26]
 |
Общий вид эндотермического пика при дифференциально-термическом анализе полимеров ( заштрихованная площадь - мера теплового эффекта. [27] |
Ориентированные полимеры дают картину дифракции, состоящую из более или менее коротких дуг, в то время как неориентированные полимеры характеризуются на рентгенограммах непрерывными дебаев-скими кольцами. Таким образом, длина дуг указывает на степень отклонения осей молекул ( точнее, сегментов макромолекул) от параллельности оси волокна. Построение кривых интенсивности вдоль дуги позволяет оценить количественно степень ориентации. [28]
 |
Конформация независимой структурной единицы изотактического полистирола 163. [29] |
С, дают очень богатую картину дифракции. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5