Картина - дифракция - рентгеновские лучей
Cтраница 1
Картина дифракции рентгеновских лучей и электронов у этого вида льда размытая, поэтому он называется стеклообразным, или аморфным, льдом. Это вещество почти наверняка представляет собой стеклообразную форму воды, но практически ничего не известно о его структуре. [1]
Картины дифракции рентгеновских лучей позволяют констатировать отличие структуры жидких кристаллов, во-первых, от истинной кристаллической структуры и, во-вторых, от структуры аморфной жидкости. Таким образом, зная истинную кристаллическую структуру исследуемого вещества ( для органических веществ, как правило, она отличается от ламелярной и обычной гексагональной упаковки), можно констатировать возникновение жидкокристаллического порядка. [2]
Картины дифракции рентгеновских лучей под большими углами подтверждают, что происходит плавление. Как и для эла-стоидиновых волокон в присутствии LiBr рекристаллизация при охлаждении не происходит. [3]
 |
Классификация размеров элементарной ячейки. [4] |
Картину дифракции рентгеновских лучей регистрируют с помощью, рентгеновской камеры для порошкообразных образцов или регистрирующего дифрактометра. [5]
 |
Часть микрофотографии, показанной на 8, при большем увеличении. [6] |
Изучение картины дифракции рентгеновских лучей показало, что во всех исследованных случаях полимерные цепи ориентированы вдоль оси фибрилл. Поэтому угол, образуемый осью макромолекулы, лежащей внутри пластины, и нормалью к ее поверхности, уменьшается по мере возрастания скорости сдвига. [7]
 |
ЛЗ. Дифракционная картина фиброина шелка. Хорошо видны интенсивные меридиональные рефлексы. [8] |
Расшифровка картин дифракции рентгеновских лучей волокнами основана на том, что местонахождение и интенсивность дифракционных пятен прямо связаны с особенностями структуры волокна. [9]
Исследование картины дифракции рентгеновских лучей в кристалле данного соединения позволяет при благоприятных условиях локализовать положение атомов, входящих в состав этого соединения, с точностью, в лучших работах достигающей нескольких тысячных ангстрема, и определить тем самым конформацию молекулы в кристалле. Получение такой картины требует, однако, очень большой вычислительной работы, которая заметно упрощается, если в кристалле присутствует один или несколько атомов с большим атомным номером. [10]
Поскольку определение параметров ячейки по картине дифракции рентгеновских лучей ( или электронов) не всегда является однозначным даже в случае низкомолекулярных кристаллических тел, то такое определение в случае кристаллических полимеров, дающих значительно менее четкие картины рассеяния, приобретает сплошь и рядом чисто формальный характер. Этот формализм в истолковании рентгенограмм и электропограмм приводит не только к ошибочным выводам о строении кристаллических полимеров, но и служит причиной долго существовавшего заблуждения о кристалличности целлюлозы 122 ], история возникновения которого весьма поучительна. [11]
Плотность кристаллических областей может быть рассчитана по картине дифракции рентгеновских лучей. Величину ра определяют, экстраполируя значения плотности расплава полиэтилена к комнатной температуре, поскольку закалкой не удается получить полностью аморфного образца. [12]
Плотность кристаллических областей может быть рассчитана по картине дифракции рентгеновских лучей. Величину р определяют, экстраполируя значения плотности расплава полиэтилена к комнатной температуре, поскольку закалкой не удается получить полностью аморфного образца. [13]
Поэтому с электронами можно получить дифракционные картины, похожие на картины дифракции рентгеновских лучей с длиной волны того же порядка величины. Френеля, относившийся к свету, получил картину дифракции электронов на крае экрана. Все эти опыты превосходно подтверждают общие представления волновой механики и, в частности, формулу h / mv; они также убедительно подтверждают возможность перенесения на материальные частицы принципа интерференции, поскольку именно этот принцип лежит в основе интерпретации явлений интерференции и дифракции. [14]
Метод определения атомно-моле-кулярной структуры твердых тел, при котором анализируется картина дифракции рентгеновских лучей, прошедших через образец. [15]
Страницы: 1 2 3