Картина - рассеяние - рентгеновские лучей - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Поосторожней с алкоголем. Он может сделать так, что ты замахнешься на фининспектора и промажешь. Законы Мерфи (еще...)

Картина - рассеяние - рентгеновские лучей

Cтраница 1


Картина рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами от растянутого волокна ( или пленки) обычно имеет вид линий ( или штрихов), расположенных на меридиане перпендикулярно оси волокна.  [1]

Картины рассеяния рентгеновских лучей выявляют расположение атомов и расстояние между слоями в кристаллах.  [2]

Картина рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами, полученная для растянутого волокна или пленки, имеет вид штрихов, расположенных по меридиану перпендикулярно оси волокна. Они свидетельствуют о том, что происходит ориентация сосуществующих нескольких типов структур в процессе вытяжки пленок линейного полиэтилена.  [3]

На рис. 209 изображены картины рассеяния рентгеновских лучей и электронных пучков одним и тем же веществом. Полное сходство картин показывает, что и в случае электронов имеет место явление дифракции.  [4]

Если цепные молекулы упорядочены, то картина рассеяния электронных и рентгеновских лучей будет одна и та же. Такое совпадение, в частности, наблюдается для растянутого каучука. Если же цепные молекулы только частично упорядочены, то существенным отличием электронограмм от рентгенограмм явится различное число интерференционных пятен. В таком случае сравнение электронограмм с рентгенограммами дает больше оснований для суждения о конфигурации цепных молекул и расположении звеньев в молекуле.  [5]

6 Литиферромагнптпля структура МпО, FeO, NiO Изображена. [6]

Первый тип рассеяния дает дифракционную картину, подобную картине рассеяния рентгеновских лучей. Интенсивности рефлексов на пейтропограммах и рентгенограммах могут несколько отличаться. Антиферромагнитиаи структура ( второй тип рассеяния) проявляется в виде дополнительных линий на нейтронограммах порошкообразных веществ.  [7]

Основная цель рентгеноструктурного анализа кристаллов заключается в том, чтобы путем соответствующего рассмотрения картины рассеяния рентгеновских лучей получить изображение структуры, рассеивающей рентгеновские лучи. Эта задача решается в два этапа: сначала измеряют интенсивности излучения, рассеянного объектом, после чего путем преобразования картины рассеяния получают изображение. В аналогичном оптическом случае, когда объект, рассеивающий свет, наблюдают с помощью микроскопа, проблемы фурье-преобразования не существует, так как это обеспечивается самой оптической системой; при этом рассеянные лучи автоматически связаны правильными фазовыми соотношениями. В случае рентгеновских лучей эта задача может быть выполнена только с помощью фурье-преобразования.  [8]

Картину рассеяния рентгеновских лучей регистрируют ка рентгеновской пленке ( фотометод) или счетчиками ионизирующего излучения ( дифрактомет-рич.  [9]

Кроме метода получения, дифракционные картины различаются и по способу регистрации. Если картина рассеяния рентгеновских лучей веществом фиксируется на пленку, чувствительную к рентгеновским лучам, с помощью специальных рентгеновских камер, в которых создается требуемая геометрия съемки, крепятся образец и пленка в светонепроницаемой кассете, то такие методы называют фотографическими, а снимки дифракционной картины - рентгенограммами. Если же дифракционная картина регистрируется с помощью различных счетчиков квантов рентгеновского излучения, то съемку проводят с помощью специальных приборов - дифрактометров. Зафиксированную на них картину рассеяния называют дифрактограммой, а сами методы дифрактометрическими.  [10]

Эта возможность основана на том, что характерные особенности картины рассеяния рентгеновских лучей кристаллом фазы А не зависят от присутствия других кристаллов той же фазы или других фаз. Рентгенограмма поликристаллического вещества является суммой рентгенограмм от отдельных кристалликов. Так как рентгенограммы различных кристаллических веществ отличаются друг от друга и типичны для этих веществ, то рентгенограмма смеси фаз является наложением рентгенограмм составляющих фаз, с соотношением интенсивностей, пропорциональных объемному содержанию фаз.  [11]

Поэтому совершенно необходимо знать, с каким состоянием полимера мы имеем дело в конкретных случаях. Обычно об этом судят по рентгенограммам и, к сожалению, принимают всякую картину рассеяния рентгеновских лучей, показывающую упорядоченность структуры, за доказательство микрокристаллического строения полимера. Однако мы видели, что структурные критерии не совпадают в случае полимеров с критериями термодинамическими. Следовательно, одна только геометрия расположения цепных молекул в пространстве не позволяет оценить направление самопроизвольных процессов в полимерах. Однако именно эти процессы определяют главные изменения эксплуатационных качеств анизотропных полимерных изделий.  [12]

Но это объяснение противоречило тому факту, что многие различные по своему молекулярному строению-жидкости дают весьма близкие друг к другу картины рассеяния рентгеновских лучей.  [13]

Но это объяснение противоречило тому факту, что многие различные по своему молекулярному строению жидкости дают весьма близкие друг к другу картины рассеяния рентгеновских лучей.  [14]

15 Приведенные функции радиального распределения 0 (. 4яйЛр ( Л для расплава Ag 50 % ( ат. Си, для осажденной из пара аморфной пленки сплава Ag 45 % ( ат. Си И для закаленного из жидкого состояния сплава PdaoSijo-W. Lukens, С. Wagner.| Приведенные функции радиального распределения, полученные для сплава Со - Р из анализа рассеяния. а - нейтронов. б - рентгеновских лучей. Анализируемая об-ласть в обоих случаях одинакова. / ( К 1 6 нм ( G. Gargell. [15]



Страницы:      1    2