Многолучевая интерференционная картина

Cтраница 1

Многолучевая интерференционная картина в прошедшем свете при значениях R, близких к единице, имеет вид узких светлых полос на почти совершенно темном фоне. В отраженном свете наблюдается дополнительная картина в виде узких темных полос на почти равномерном светлом фоне. Подобное пространственное перераспределение потока энергии с концентрацией его в некоторых преимущественных направлениях всегда возникает при интерференции многих пучков. [1]

К принципу Гюйгенса - Френеля. [2]

Для многолучевой интерференционной картины характерны резкие светлые полосы, ширина которых много меньше расстояния между ними. Это легко понять из энергетических соображений: при увеличении числа интерферирующих пучков в п раз общий световой поток также возрастает в п раз, но интенсивность в максимумах возрастает в п2 раз, что возможно только при том условии, что их ширина одновременно уменьшается в п раз. [3]

Для многолучевой интерференционной картины соотношение принимает иной вид. [4]

Распределение интенсивности в такой многолучевой интерференционной картине будет рассмотрено в § 6.5 на примере дифракционной решетки. На этом принципе действует интерферометр Фабри-Перо, широко используемый в спектроскопии высокого разрешения и в метрологии. Он может быть выполнен в виде плоскопараллельной стеклянной или кварцевой пластины, на обе поверхности которой нанесены отражающие слои, либо в виде двух пластин, у которых покрытые отражающими слоями плоскости установлены строго параллельно друг другу и разделены воздушным промежутком. [5]

Увеличение R при наклонном падении луча не является достаточным для получения резкой многолучевой интерференционной картины в проходящем свете. Коэффициент отражения, близкий к единице, можно получить и при почти нормальном падении света - путем нанесения соответствующих многослойных диэлектрических покрытий или частично прозрачного слоя металла. [6]

Поэтому при большом числе штрихов огибающая функция / i ( 6) модулирует многолучевую интерференционную картину и определяет относительную интенсивность главных максимумов разных порядков, но практически не влияет на положение и ширину главных максимумов. [7]

На основании предыдущего можно сделать общее заключение: при достаточно больших значениях параметра Rt в проходящем свете имеет место чередование узких интерференционных максимумов и широких минимумов, что является характерной особенностью многолучевой интерференционной картины в проходящем свете. В отраженном свете получим обратную картину: чередование широких максимумов и узких минимумов. [8]

Многолучевая интерференционная картина образована зеркальными пластинами А, В, и С. Объектив 2 фокусирует лучи на плоское зеркало /, расположенное нормально к оптической оси пучка, падающего не него. Глаз наблюдателя, помещенный в плоскости экрана §, будет наблюдать интерференционные полосы наложения ( см. гл. [9]

В приборе не предусмотрена возможность наблюдения полос, образованных при многолучевой интерференции. Для наблюдения многолучевой интерференционной картины вместо прозрачной образцовой пластины необходимо установить пластину, нижняя поверхность которой покрыта полупрозрачным слоем серебра или диэлектрика. Соответственно этому и контролируемая поверхность должна обладать значительно более высокой отражающей способностью, чем поверхность стекла. Если контролируются прозрачные поверхности, то на них должен быть нанесен отражающий слой. [10]

Из сравнения кривых распределения интенсивности для различных случаев сложения колебаний видно, что при возрастании числа складываемых колебаний увеличивается крутизна интерференционного контура. Именно это свойство многолучевой интерференционной картины делает ее особенно удобной при регистрации весьма малых изменений разности хода, вносимой объектом, помещенным между зеркальными поверхностями. [11]

Не влияет она и иа резкость интерференционной картины, так как резкость определяется только полным числом штрихов. От формы штрихов зависит лишь плавная функция Л ( 6), модулирующая многолучевую интерференционную картину. Вид этой функции определяет распределение энергии дифрагировавшего света между главными максимумами разных порядков. [12]

Прибор теневого сечения ПТС-1.| Двухлучевой микроинтерферометр МИИ-4. [13]

При исследовании микрорельефа поверхностей, имеющих ступенчато-образную форму, часто бывает необходимо производить измерения с большой точностью. В этом случае перспективным является многолучевой микроинтерферометр МИИ-11. В приборе использован принцип получения многолучевой интерференционной картины в клине. [14]

Схема многолучевого интерферометра. [15]

Страницы: 1 2